シリコン半導体検出器による粒子多重度測定の可能性

• Project/Area Number: 01540232
• Research Category: Grant-in-Aid for General Scientific Research (C)
• Allocation Type: Single-year Grants
• Research Field: 核・宇宙線・素粒子
• Research Institution: The University of Tokyo
• Principal Investigator: 秋葉 康之 (1990) 東京大学, 原子核研究所, 助手 (80192459); 浜垣 秀樹 (1989) 東京大学, 原子核研究所, 助手 (90114610)
• Co-Investigator(Kenkyū-buntansha): 杉立 徹 広島大学, 理学部, 助手 (80144806) ; 本間 三郎 東京大学, 原子核研究所, 教授 (10004326) ; 永江 知文 東京大学, 原子核研究所, 助手 (50198298)
• Project Period (FY): 1989 – 1990
• Project Status: Completed (Fiscal Year 1990)
• Budget Amount: ¥2,500,000 (Direct Cost: ¥2,500,000); Fiscal Year 1990: ¥400,000 (Direct Cost: ¥400,000); Fiscal Year 1989: ¥2,100,000 (Direct Cost: ¥2,100,000)
• Keywords: 粒子多重度 / シリコン / 半導体 / 高エネルギ-重イオン衡突 / 高エネルギ-重イオン衝突

Research Abstract

本研究は、シリコン半導体検出器の、細かく比較的自由な読み出しが可能な点を利用して、高エネルギ-重イオン衡突反応で生ずる数百〜数千におよぶ生成荷電粒子数(粒子多重度)を測定することに応用する可能性を調べるものである。前年度までに、半導体検出器として、ストリップ型の読み出しパタ-ンを持ち、有効領域48ミク角、ストリップ間隔125μのもの(浜松ホトニクス社製)を採用し、また、信号読み出しのための低雑音前置増巾器を選定して、この検出器からの信号読み出しテストを開始した。
今年度は、前年度にひき続いて、検出器からの読み出しテストを行なった。デ-タ収集および解析のために、パ-ソナルコンピュ-タとCAMACを用いたデ-タ収集システムを用意し、そのデ-タ収集・解析用ソフトウェアを整備した。また、信号読み出しのための、波形整形回路を作製し、S/N向上のための最適化をおこなった。放射線源でのテストを行うため、トリガ-用の小型シンチレ-ションカウンタ-を作成した.これらを用いて、シリコン検出器から、連続する16本のストリップについて同時に信号を読み出し、パ-ソナルコンピュ-タでそのデ-タを記録、解析した。ADCで測定した波高分布から、MINIMUM IONIZATION粒子に対して、雑音信号のRMS値の十数倍の波高値が得られている。現在、測定をつづけながら、結果のまとめを行なっている。