| Budget Amount *help |
¥1,500,000 (Direct Cost: ¥1,500,000)
Fiscal Year 1993: ¥400,000 (Direct Cost: ¥400,000)
Fiscal Year 1992: ¥400,000 (Direct Cost: ¥400,000)
Fiscal Year 1991: ¥700,000 (Direct Cost: ¥700,000)
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| Research Abstract |
目的:パターンリバーサル二発刺激(以下,二発刺激)によるERGとVEPを測定し,条件刺激が誘発電位におよぼす影響を調べる。
方法:健康成人70例を対象として,二発刺激を与えた。刺激間間隔(ISI)は40〜180msec。二発刺激による反応Aから一発刺激による反応Bを差し引いた反応Xを求め,反応Bと反応Xの潜時・振幅を比較した。ERGはgold foil電極により,VEPは正中後頭電極によりそれぞれ記録した。
結果:(1)ERG潜時:反応Bのa(p),b(p),c(p)潜時は反応Xのa(p),b(p),c(p)潜時より短い。(2)ERG振幅:b(p)振幅はB<X,c(p)振幅はB>X,(3)VEP潜時:反応BのP50,N75,P100,N145潜時は反応Xの各潜時より短い。(4)VEP振幅:N75振幅はB<X,P100振幅,N145振幅はB>X。
結論:条件刺激の影響で,試験刺激によるERG,VEPの潜時は延長する。条件刺激による影響の差から,b(p)波とc(p)波の起源は異なる性質をもつことがわかった。同時にN75の起源はP100,N145の起源とは異なる性質をもつことが明らかになった。
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