ガス吸着した酸化マグネシューム単結晶から電子衝撃脱離するイオンの角度分布測定

• Project/Area Number: 05650032
• Research Category: Grant-in-Aid for General Scientific Research (C)
• Allocation Type: Single-year Grants
• Research Field: 表面界面物性
• Research Institution: Toho University
• Principal Investigator: 後藤 哲二 東邦大学, 理学部, 助教授 (50095494)
• Project Period (FY): 1993
• Project Status: Completed (Fiscal Year 1993)
• Budget Amount: ¥1,500,000 (Direct Cost: ¥1,500,000); Fiscal Year 1993: ¥1,500,000 (Direct Cost: ¥1,500,000)
• Keywords: 酸化マグネシューム / 角度分布 / 電子衝撃脱離 / 脱離イオン

Research Abstract

1.平成5年度初頭において使用していた電子銃をパルス運転できるように改造をおこなった。この結果、飛行時間(time of flight:TOF)法により脱離イオンの飛行時間を測定することにより脱離イオンの質量および、脱離時の運動エネルギーの分析が可能な実験装置とすることができた。
2.酸化マグネシューム試料結晶表面にガスを吸着させることから、吸着物質の電子衝撃脱離を観察するためにガス導入系を付設することに成功した。
このような改造の結果、下記のような実験をおこなうことができた。
1.酸化マグネシューム試料結晶表面に電子エネルギー(up to 650eV)の電子照射をおこない、これに伴って引き起こされるイオン脱離を観察し、脱離イオンの質量分析および、脱離時の運動エネルギーの測定をおこなった。この結果、K-F機構^*によって脱離するとは考えにくい脱離イオンを見いだすことができた。
*:Auger電子放出を伴う原子の失活過程による電荷変化によるイオンの放出を説明する機構;Knotek-Feibelman mechanism
2.吸着物質からの脱離イオンについて、観察をおこなうために上記の改造でえたガス導入系を用いて酸化マグネシューム試料結晶表面に空気を吸着させることができた。この表面に入射させる電子のエネルギーを変化させて、脱離イオンの閾値エネルギー、および角度依存収量の測定を集中的におこなうことができた。
以上の実験から当初意図したイオン脱離の脱離機構の解明に、大きく展望が開けてきたが、詳細な検討をほどこし、結論を得るにはあと2ないし3数カ月を要する見通しである。