| Project/Area Number |
05650200
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| Research Category |
Grant-in-Aid for General Scientific Research (C)
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| Allocation Type | Single-year Grants |
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| Research Field |
Thermal engineering
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| Research Institution | Oita University |
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Principal Investigator |
上宇都 幸一 大分大学, 工学部, 教授 (20038029)
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| Project Period (FY) |
1993
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| Project Status |
Completed (Fiscal Year 1993)
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| Budget Amount *help |
¥1,400,000 (Direct Cost: ¥1,400,000)
Fiscal Year 1993: ¥1,400,000 (Direct Cost: ¥1,400,000)
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| Keywords | シリカエアロゲル / 散乱位相関数 / アルベド / 相関散乱 / 単分散 / 非対称性パラメータ |
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| Research Abstract |
シリカエアロゲルに450nmの一様光を照射させたときに生ずる境界散乱光データを、申請者の開発した反復的逆散乱問題ソルバーを用いて解析した結果、シリカエアロゲルの光学特性について以下の知見を得た。
(1)シリカエアロゲルが、SiO_2の単分散粒子群より構成されているならば、その平均粒径は、10〜20nm程度であり、かつ体積分率は0.1程度である。従って、相関散乱は、無視できない。
(2)シリカエアロゲルの散乱位相関数は、Rayleigh、散乱位相関数よりもやや前方散乱が強く、非対称性パラメータは、0.1程度である。また、散乱角pi/2近傍で、くぼみを生ずる。以上の結果は、単分散相関散乱理論では、説明できない。
(3)可視機でのエアロゲルのアルベドは、1である。
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