| Research Abstract |
1.多重故障診断用テスト集合およびその生成法の提案:従来の診断用テスト集合と異なり,本診断法では,TP_1:少なくとも1つの検査点を部分単一活性化経路上に含む経路を活性化する活性化入力対の集合,TP_2:検査点を多重活性化経路上に含む経路を活性化する活性化入力対の集合,TP_3:外部入力から検査点までの経路を活性化する活性化入力対の集合およびTP_4:検査点の単一縮退故障に対する検査入力の集合によって構成される診断用テスト集合を提案した.次に,この診断用テスト集合を得るために7値の論理値を導入したテスト生成法を提案した.科学研究費補助金により購入したワークステーション上に生成法を実現し,ベンチマーク回路に適用した結果,冗長故障をもつ検査点以外のすべての検査点に対して診断用テストを生成することができた.
2.多重故障診断法の提案:1.の診断用テスト集合により活性化された経路に基づく診断法を提案した.診断法は,1)外部出力で故障出力が観測された活性化経路に基づいて故障候補を推定するための処理,および,2)外部出力で正常出力が観測された活性化経路に基づいて正常な信号線を同定するための処理から成る.また,推定された故障候補の数をより減少させるために,診断用テスト集合により活性化された経路に基づいて観測点を決定し,TP_1およびTP_2による診断に電子ビームテスタを併用する手法も提案した.補助金により購入したワークステーション上に提案した診断法を実現し,4重故障までを仮定したベンチマーク回路に適用した実験を行い,本診断法が故障候補を全故障数の0.2〜5.1%の範囲に指摘できることを明らかにした.これらの実験結果より,診断用テスト集合により活性化された経路に基づく診断法は,多重縮退故障の一診断法として有効であると考えられる.現在,本研究の成果を論文誌に投稿するための準備を行っている.
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