多価ECRイオン源のX線分光による診断

• Project/Area Number: 07218202
• Research Category: Grant-in-Aid for Scientific Research on Priority Areas
• Allocation Type: Single-year Grants
• Research Institution: The University of Tokyo
• Principal Investigator: 関口 雅行 東京大学, 原子核研究所, 助教授 (10013393)
• Co-Investigator(Kenkyū-buntansha): 服部 俊幸 東京工業大学, 原子炉研, 助教授 (50134648) ; 小牧 研一郎 東京大学, 教養学部, 教授 (40012447)
• Project Period (FY): 1995
• Project Status: Completed (Fiscal Year 1995)
• Budget Amount: ¥2,000,000 (Direct Cost: ¥2,000,000); Fiscal Year 1995: ¥2,000,000 (Direct Cost: ¥2,000,000)
• Keywords: 多価イオン / X線 / ECRイオン源

Research Abstract

多価ECRイオン源は、強力なX線発生源であり,そのX線がイオン源の動作状態についての状報を担っていることが知られている。本研究は,そのX線を分光することにより,ECRイオン源における多価イオンの発生メカニズムを探り,多価ECRイオン源の診断を行うことを目標としている。これまでの測定で
(1)X線スペクトルは500keV以上,800keV位まで達している。
(2)このX線は,主としてECRによって加速された電子が,プラズマ容器と衝突する際に発生する制動輻射による。
(3)プラズマ容器中の発生源の探査では,X線強度が測定方向に強く依存する。
ことがわかった。尚,小型Si(Li)X線検出器による線スペクトルの測定は成功するに至っていない。
本年度の大部分は,これまでに測定されたスペクトルの解析とその解釈に当てられたが,今後も更に続けて行うことにしている。

Research Products

• [Publications] M.Sekiguchi: "Summary of 12th International ECRIS Workshop(1995)" Rev.Sci.Instrum. 67(to be published). (1996)