| Project/Area Number |
09229218
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| Research Category |
Grant-in-Aid for Scientific Research on Priority Areas
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| Allocation Type | Single-year Grants |
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| Research Institution | The University of Tokyo |
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Principal Investigator |
朝倉 清高 東京大学, 大学院・理学系研究科, 助教授 (60175164)
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| Co-Investigator(Kenkyū-buntansha) |
大西 洋 東京大学, 大学院・理学系研究所, 助教授 (20213803)
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| Project Period (FY) |
1997
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| Project Status |
Completed (Fiscal Year 1997)
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| Budget Amount *help |
¥2,100,000 (Direct Cost: ¥2,100,000)
Fiscal Year 1997: ¥2,100,000 (Direct Cost: ¥2,100,000)
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| Keywords | XPEEM / 濃度傾斜表面 / 科学波 / 自己組織化 |
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| Research Abstract |
われわれは、表面の不純物濃度や温度を傾斜させることで表面の非線型反応性を制御することを目的として、表面反応の動的な解析を行うのに必要なリアルタイムイメージングシステムを開発し、複雑な化学過程を直接捉える試みを行った。
リアルタイムイメージングシステムについては、昨年度ほぼ完成し、本年更に、改良を加えた。主な改良点は、
1.冷却CCDカメラを装着し、高感度で像観察できるようにした。
2.蒸着源を改良し、より正確に蒸着できるようにした。
3.電子線源を取り付けて、電子励起2次電子像を観測できるようにした。
こうした改良により、Si(111)表面にAuを蒸着したもので、AuのX線励起PEEM像の画像化することに成功した。全電子を用いて、画像化しているが、現左X線源を改良し、調整を進めることで、エネルギー選別光電子スペクトル像測定を試みている。さらに電子線源を取り付け、サンプルバイアスを変化させることで、Auger電子放出顕微鏡(AEEM)を可能とした。
Agの昇華過程とAgアイランド上の傾斜化過程の観察を行った。Agアイランドの昇華過程を電子線励起2次電子像(SEEM像)により観察し、それに伴う傾斜構造の形成過程を調べた様子を示した。周辺から昇華し、それに伴い、Agのアイランドの厚みに傾斜が生じている。傾斜や厚みについては、今後、さらに詳細に解析する必要がある。
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