微細磁性体配列のスピン検出走査電顕による研究

• Project/Area Number: 09236221
• Research Category: Grant-in-Aid for Scientific Research on Priority Areas
• Allocation Type: Single-year Grants
• Research Institution: Gakushuin University
• Principal Investigator: 溝口 正 学習院大学, 理学部, 教授 (30080443)
• Co-Investigator(Kenkyū-buntansha): 藤井 純 学習院大学, 理学部, 助手 (30265574)
• Project Period (FY): 1997
• Project Status: Completed (Fiscal Year 1997)
• Budget Amount: ¥2,100,000 (Direct Cost: ¥2,100,000); Fiscal Year 1997: ¥2,100,000 (Direct Cost: ¥2,100,000)
• Keywords: 微細磁性体 / スピン偏極度 / SXAPS / スピン偏極電子線 / スピン偏極度検出器

Research Abstract

1.Ni(110)単結晶に対して、スピン偏極電子線を用いたNi2p_<2/3>およびNi2p_<1/2>SXAPSの測定を行った。軟X線強度をパルスカウント法で計測したので、ΔE=0.13eVの高分解能のスペクトルを得ることができた。スペクトル解析により、APSスペクトルは空の状態密度だけに依存するわけではなく、内殻ホールのできる確率を考慮に入れなければいけないことがわかった。このことは特にNi2p_<1/2>スペクトルでは顕著である。
2.微細磁性体配列は、通常の走査電子顕微鏡を使用し、電子線リソグラフィー技術によって作成を試みている。これまでに、レジストの加工条件を決定した。
3.自作した小型スピン偏極度検出器を使用し、マグネタイト(110)単結晶表面から放出される2次電子のスピン偏極度を測定した。観測されたスピン偏極度は約10%であった。これは鉄と酸素の全価電子の平均スピン偏極度と一致する。