相転移におけるクラスター成長の時分割測定法の研究

• Project/Area Number: 09740340
• Research Category: Grant-in-Aid for Encouragement of Young Scientists (A)
• Allocation Type: Single-year Grants
• Research Field: 物理学一般
• Research Institution: Oita University
• Principal Investigator: 藤井 弘也 大分大学, 教育学部, 助教授 (70218981)
• Project Period (FY): 1997 – 1998
• Project Status: Completed (Fiscal Year 1998)
• Budget Amount: ¥700,000 (Direct Cost: ¥700,000); Fiscal Year 1998: ¥700,000 (Direct Cost: ¥700,000)
• Keywords: 相転移 / PSPC / 集光型モノクロメータ / 時分割測定法 / 液晶 / 光学系 / X線回折 / 物性 / モノクロメータ / クラスター / 緩和過程

Research Abstract

本研究は集光型モノクロメータと位置敏感型比例計数管(PSPC)を使用した回折パターンの時間依存性を調べる光学系の開発と、液晶等の相転移の時間依存性の測定を目的としていた。前年度で完成させた光学系は試料位置が変更できなかったため、物質によって適切な回折条件が選択できなかった。今回は液晶試料の他に粉末試料へ対象を広げるため、一次元光学ベンチを整備し、この問題点を解消した。これに伴い光学系の重量が増したため、定盤を鉄板に変更し、各光学機器をマグネットベースで固定する方式に変更した。また、集光型モノクロメータからの蛍光反射が試料位置を変更するたびに条件が変わるため、光学的遮蔽を整備した。この光学系の変更により液晶の小角、中角の反射が適切な回折条件で測定可能になった。また、時間依存性測定用ソフトウェアの開発が課題となっていたが、これを完成させた。本回折系は位置敏感型比例計数管を使用しているため、一定の角度の回折反射を同時に採取可能な点が特徴である。従来の回折系では、センサー角度を変化させながらデータを採取するため、角度変化の間に時間が経過し、測定開始角度と終了角度では測定時間に違いが生じてしまう。今回の回折系ではこの点が改善されている。しかし、今回は外場を与えるための電場装置や磁場装置が整備できなかったため、外場による時間依存性の測定ができなかった。また時間依存性測定用ソフトウェアは測定間のインターバルの設定ができないため、長時間の測定には不向きとなっている。これの改善も予定している。