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セルフキャリブレーション機能を有する差動型光ファイバー変位計の開発

Research Project

Project/Area Number 09750162
Research Category

Grant-in-Aid for Encouragement of Young Scientists (A)

Allocation TypeSingle-year Grants
Research Field 設計工学・機械要素・トライボロジー
Research InstitutionNagaoka University of Technology

Principal Investigator

嶋本 篤  長岡技科大, 工学部, 助手 (90226225)

Project Period (FY) 1997 – 1998
Project Status Completed (Fiscal Year 1998)
Budget Amount *help
¥2,300,000 (Direct Cost: ¥2,300,000)
Fiscal Year 1998: ¥700,000 (Direct Cost: ¥700,000)
Fiscal Year 1997: ¥1,600,000 (Direct Cost: ¥1,600,000)
Keywords光ファイバー / 半導体レーザー / 反射率 / 変位計測 / 幾何光学解析 / 作動距離
Research Abstract

本年度は、50mum径の光ファイバープローブを用いて、差動型光ファイバー変位計の測定プローブ、電子回路等を試作し、また、幾何光学解析結果と実験値の比較を行った。試作した光ファイバープローブは、1本の照射ファイバーの周囲に6本の受光ファイバーからなる受光部Iを配置し、さらにそれを取り囲むように多数の受光ファイバーからなる受光部IIを配置した。全体のファイバー束の直径は1.1mmとした。半導体レーザー光を焦点距離20mmの収束レンズを用いて照射ファイバー端面に入射角thetaで入射させ、受光ファイバーIおよびIIからの受光電力P_IおよびP_<II>をフォトダイオードで検出し、これらの和P_<II>+P_Iおよび差P_<II>-P_Iおよびそれらの商をアナログ電子回路で演算し、出力する。また、購入した分解能0.6nmのリニアマイクロエンコーダーを既設の校正装置に組み込んだ校正装置により、十分な分解能で試作した変位計の校正を行った。
幾何光学解析は、研究代表者らが開発した手法(Appl.Opt.,35(34),6767(1996))に基づき、これを拡張して適用した。その結果、幾何光学解析結果は実測値とほぼ完全に一致し、レーザー光を用いた差動型光ファイバー変位計においても、幾何光学解析が可能であることが確認できた。また、反射率が異なる3種の被測定面(金蒸着面、カーボンコートされたアルミニウム面、ビデオテープ)に対して、商出力が反射率の影響を受けないことが確認できた。得られた変位計の周波数特性は、1MHzにもおよび、高周波の振動測定にも適用可能であることが示された。

Report

(1 results)
  • 1997 Annual Research Report
  • Research Products

    (3 results)

All Other

All Publications (3 results)

  • [Publications] F.Suganuma, A.Shimamoto and K.Tanaka: "Development of a differential optical fiber displacement sensor" Journal of The Magnetics Society of Japan. 21・S2. 115-118 (1997)

    • Related Report
      1997 Annual Research Report
  • [Publications] T.Sawa, A.Shimamoto and K.Tanaka: "Evaluation of the mechanical properties of the multilayered films by nanoindentation at a penetration depth as small as 10nm" Journal of The Magnetics Society of Japan. 21・S2. 103-106 (1997)

    • Related Report
      1997 Annual Research Report
  • [Publications] A Shimamoto and K.Tanaka: "Development of a depth controlling nanoindentation tester with subnanometer depth and submicronewton load resolutions" Review of Scientific Instruments. 68・9. 3494-3503 (1997)

    • Related Report
      1997 Annual Research Report

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Published: 1997-04-01   Modified: 2016-04-21  

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