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周波数変調AFMの高感度化および変調赤外光照射による散逸振動エネルギーの解明

Research Project

Project/Area Number 09J05618
Research Category

Grant-in-Aid for JSPS Fellows

Allocation TypeSingle-year Grants
Section国内
Research Field Thin film/Surface and interfacial physical properties
Research InstitutionKyoto University

Principal Investigator

細川 義浩  京都大学, 工学研究科, 特別研究員(DC1)

Project Period (FY) 2009 – 2011
Project Status Completed (Fiscal Year 2011)
Budget Amount *help
¥2,100,000 (Direct Cost: ¥2,100,000)
Fiscal Year 2011: ¥700,000 (Direct Cost: ¥700,000)
Fiscal Year 2010: ¥700,000 (Direct Cost: ¥700,000)
Fiscal Year 2009: ¥700,000 (Direct Cost: ¥700,000)
Keywords周波数変調方式原子間力顕微鏡 / FM-AFM / NCAFM / 赤外分光 / IR Spectroscpy / 量子カスケードレーザ / QCL / 自由電子レーザ / 周波数変調方式原子間顕微鏡 / 非接触型原子間力顕微鏡 / NC-AFM / 振動振幅制御 / 周波数シフトカーブ / 超高真空 / UHV
Research Abstract

単一/少数有機分子系を機能性デバイスとして利用する分子スケールエレクトロニクス実現に向けては、個々の分子の電子状態や結合状態を高感度に測定することが必要不可欠となる。赤外光による分子振動励起を検出する顕微分光は非常に有効な手法である。しかしながら、これらの手法は光を照射し、その反応を観察するという特徴から、原理的な空間分解能の限界(~100nm)が存在する。そこで本研究では、従来の電子状態分光や顕微分光の空間分解能の限界を超えて、単一分子/少数分子系の電子状態/結合状態を解析することを可能とする「光照射走査プローブ物性評価法」を新たに開発することを目的とした。本研究においてグラファイト(HOPG)基板上にpolydimethylsiloxane(PDMS)をスピンコートした試料を作製し、強度変調した量子カスケードレーザー(QCL)(中心波長:1050cm-1)からの赤外光を強度変調してカンチレバー探針直下へ照射し、カンチレバーの変調周波数成分の振動振幅位相をロックインアンプで検出した。QCLの強度変調周波数はカンチレバーの1次共振周波数(68kHz)近傍とし、FM-AFMの探針-試料間距離制御にはカンチレバーの2次共振モードを用いた。照射赤外光の強度変調周波数をそれぞれ69kHzおよび65kHzとした場合の変調周波数におけるカンチレバーの振動振幅を検出したところ、PDMS上とHOPG上では赤外光照射によるカンチレバーの振動振幅に明確な差異があることがわかった。さらに、HOPGとPDMSの境界を詳しく観察することで、数10nm程度の空間分解能でPDMSとHOPGを識別可能であることを示した。

Current Status of Research Progress
Current Status of Research Progress

1: Research has progressed more than it was originally planned.

Reason

原子間力顕微鏡を用いた高空間分解能赤外分光技術についての有用性を示し、また新規手法開発によって従来方では実現が難しかった10nmオーダーでの赤外振動検出に成功したため。

Strategy for Future Research Activity

走査型プローブ顕微鏡を用いた赤外分光技術をさらに発展させるためには、利用する赤外光のパワー密度を向上させる必要がある。パワー密度が大きく波長可変な赤外光源として非線形光学結晶を利用したレーザーなどがあり、これらを利用することでより高精度な研究が可能である。

Report

(3 results)
  • 2011 Annual Research Report
  • 2010 Annual Research Report
  • 2009 Annual Research Report
  • Research Products

    (19 results)

All 2011 2010 2009

All Journal Article (2 results) (of which Peer Reviewed: 2 results) Presentation (15 results) Patent(Industrial Property Rights) (2 results) (of which Overseas: 1 results)

  • [Journal Article] A procedure to determine the optimum imaging parameters for atomic/molecular resolution frequency modulation atomic force microscopy2010

    • Author(s)
      Y.Hosokawa, K.Kobayashi, N.Oyabu, K.Matsushige, H.Yamada
    • Journal Title

      Review of Scientific Instruments

      Volume: 81 Pages: 93701-93701

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    • Peer Reviewed
  • [Journal Article] Reproducible noncontact force spectroscopy for studying molecules2009

    • Author(s)
      Yoshihiro Hosokawa
    • Journal Title

      Measurement Science and Technology 20

      Pages: 97001-97001

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      細川義浩, H.-G.von Ribbeck, R.Jacob, M.T.Wenzel, L.Eng, 小林圭, 山田啓文, 松重和美
    • Organizer
      第58回応用物理学関係連合講演会
    • Place of Presentation
      神奈川工科大学
    • Year and Date
      2011-03-26
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      Toyako, Hokkaido
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      Tenerife-Canary Islands, Spain
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      Lindau, Germany
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      細川義浩, 小林圭, 山田啓文, 松重和美
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      第72回応用物理学関係連合講演会
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      山形大学
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      Y.Hosokawa, H.-G.von Ribbeck, R.Jacob, M.T.Wenzel, L.Eng, K.Kobayashi, H.Yamada, K.Matsushige
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      The 18th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy and Asian SPM (24)
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      Atagawa, Japan
    • Year and Date
      2010-12-10
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  • [Presentation] FM-AFMによる高空間分解能赤外分光法へ向けた赤外光照射と探針-試料間相互作用力の相関計測2010

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      細川義浩, 小林圭, 山田啓文, 松重和美
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      第71回応用物理学関係連合講演会
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      長崎大学
    • Year and Date
      2010-09-16
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      Y.Hosokawa, K.Kobayashi, H.Yamada, K.Matsushige
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      Trends in Nanotechnology (TNT 2010)
    • Place of Presentation
      Braga, Portugal
    • Year and Date
      2010-09-07
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  • [Presentation] Study on stable self-oscillation criteria in FM-AFM2010

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      Y.Hosokawa, K.Kobayashi, K.Matsushige, H.Yamada
    • Organizer
      13th International Conference on Non-Contact Atomic Force Microscopy (NC-AFM 2010)
    • Place of Presentation
      Kanazawa, Japan
    • Year and Date
      2010-08-02
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  • [Presentation] Considering Criteria for Stable Self-Oscillation in Frequency-Modulation Atomic Force Microscopy2010

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      Y.Hosokawa, K.Kobayashi, H.Yamada, K.Matsushige
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      The 12th International Scanning Probe Microscopy Conference
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      Sapporo, Japan
    • Year and Date
      2010-05-11
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  • [Presentation] FM-AFMにおける自励発振の安定性に関する検討2010

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      細川義浩
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      第57回 応用物理学関係連合講演会
    • Place of Presentation
      東海大学
    • Year and Date
      2010-03-18
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      2009 Annual Research Report
  • [Presentation] A Consideration on Criteria for Stable Self-Oscillation in Frequency Modulation AFM2010

    • Author(s)
      Yoshihiro Hosokawa
    • Organizer
      3rd Global COE Symposium
    • Place of Presentation
      京都大学
    • Year and Date
      2010-03-12
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      2009 Annual Research Report
  • [Presentation] High Resolution Imaging of Molecules Using Small Oscillation Amplitude FM-AFM2010

    • Author(s)
      Yoshihiro Hosokawa
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      Osaka University 2nd Global COE International Symposium Electronic Devices Innovation
    • Place of Presentation
      ホテル阪急,大阪府
    • Year and Date
      2010-01-15
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      2009 Annual Research Report
  • [Presentation] A consideration on stable self-oscillation criteria in FM-AFM2009

    • Author(s)
      Yoshihiro Hosokawa
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    • Place of Presentation
      熱川ハイツ,静岡県
    • Year and Date
      2009-12-10
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      2009 Annual Research Report
  • [Presentation] Determination of the Optimum Spring Constant and Oscillation Amplitude for Atomic/Molecular-Resolution FM-AFM2009

    • Author(s)
      Yoshihiro Hosokawa
    • Organizer
      12th International Conference on Non-contact Atomic Force Microscopy
    • Place of Presentation
      Yale大学,アメリカ
    • Year and Date
      2009-08-14
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      2009 Annual Research Report
  • [Patent(Industrial Property Rights)] 走査形プローブ顕微鏡2010

    • Inventor(s)
      西啓介、細川義浩、小林圭、山田啓文、松重和美
    • Industrial Property Rights Holder
      国立大学法人京都大学
    • Filing Date
      2010-03-25
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      2009 Annual Research Report
    • Overseas
  • [Patent(Industrial Property Rights)] 走査形プローブ顕微鏡2009

    • Inventor(s)
      西啓介、細川義浩、小林圭、山田啓文、松重和美
    • Industrial Property Rights Holder
      国立大学法人京都大学
    • Industrial Property Number
      2009-226030
    • Filing Date
      2009-04-30
    • Related Report
      2009 Annual Research Report

URL: 

Published: 2009-04-01   Modified: 2024-03-26  

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