消滅処理へ向けた超アクチナイド原子核の内部転換電子の測定

• Project/Area Number: 10780318
• Research Category: Grant-in-Aid for Encouragement of Young Scientists (A)
• Allocation Type: Single-year Grants
• Research Field: Nuclear engineering
• Research Institution: Nagoya University
• Principal Investigator: 柴田 理尋 名古屋大学, 工学研究科, 助手 (30262885)
• Project Period (FY): 1998 – 1999
• Project Status: Completed (Fiscal Year 1999)
• Budget Amount: ¥1,700,000 (Direct Cost: ¥1,700,000); Fiscal Year 1999: ¥500,000 (Direct Cost: ¥500,000); Fiscal Year 1998: ¥1,200,000 (Direct Cost: ¥1,200,000)
• Keywords: アクチナイド原子核 / Si-PINダイオード / 不安定核 / α線 / オンライン同位体分離装置(ISOL) / 内部転換電子 / 遅延同時計数

Research Abstract

初年度において標準線源を用いた内部転換電子及びα線の測定結果から、Si-PINダイオードの有効性を実証した。その結果を基に、本年度はSi-PINダイオード7枚からなる高効率α線測定装置を開発し、アクチノイド核の測定を行った。
日本原子力研究所タンデム加速器に設置されているオンライン同位体分離装置(JAERI-ISOL)を利用して^<235,235>U(^6Li,xn)反応で生成するAm同位体をオンライン同位体分離装置で分離し、α線及びαーγ同時計数測定を行った。その結果、^<236>AmのQ_α=6.26MeV、α分岐比=3.7×10^<-5>と決まった。^<234>Amについてもα線の測定に成功した。質量分離を行った結果、従来の化学分離による結果は^<235>Amと混同していることが判明した、精度の良いデータを得ることが出来た。
生成量及びα線放出率が非常に小さいAmが測定できたのは、従来のSi検出器よりも立体角を大きく取ることができるPINダイオードを用いたことが大きな要因である。本研究によって、アクチナイド領域の崩壊研究が進展する確信を得た。今後はターゲットをCmやPuを用いることによってAm以上のアクチナイド核種の崩壊特性の研究を進め、核変換(核消滅)の基礎研究を発展させる。