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高効率ダイヤモンド平面構造型電子エミッターの作製と電子特性解析

Research Project

Project/Area Number 12750271
Research Category

Grant-in-Aid for Encouragement of Young Scientists (A)

Allocation TypeSingle-year Grants
Research Field Electronic materials/Electric materials
Research InstitutionOsaka University

Principal Investigator

牧 哲朗  大阪大学, 基礎工学研究科, 助手 (80273605)

Project Period (FY) 2000 – 2001
Project Status Completed (Fiscal Year 2001)
Budget Amount *help
¥2,100,000 (Direct Cost: ¥2,100,000)
Fiscal Year 2001: ¥1,000,000 (Direct Cost: ¥1,000,000)
Fiscal Year 2000: ¥1,100,000 (Direct Cost: ¥1,100,000)
Keywordsダイヤモンド / 電子エミッター / 負性電子親和力 / 水素終端 / サルファー / 走査型トンネル電子分光
Research Abstract

水素終端ダイヤモンド表面は負性電子親和力を示し,この特性が電子エミッター応用に重要であるが,大気中にさらすと表面にp形の導電性が生じる.昨年度の研究成果から,このp形の導電性は,電子エミッションにはむしろ不適であることが明らかとなった.本年度では,このp形導電性の制御に重点をおき,さらに,ドナーライクセンターの導入,電極構造の最適化を行った.
1.水素終端ダイヤモンド表面の導電性制御
水素終端表面の導電性を制御するために,これを誘起する起源が,ダイヤモンド表面への大気中からの吸着種である可能性に着目した.ダイヤモンド表面導電性の大気中での影響を詳細に調査し,in situプロセスによるダイヤモンド表面のパッシベーションを試みた.in situプロセスにより,PLD法によるアモルファスCaF_2をダイヤモンド表面に堆積させることにより,水素終端ダイヤモンド表面の導電性の発現機構検証ならびにその制御に成功した.
2.サルファードープによるドナーライクセンターの導入
SF_6ドープによるダイヤモンド薄膜のn形化を試みた結果,ドナーライクセンターの導入の可能性が明らかとなった.イオン注入によるサルファードープしたダイヤモンド薄膜のエミツション特性は,閾値電界はドープ量に依存しない一方,エミッション電流値は,ドープ量の増大に伴い増加した.サルファードープに伴いエミッションエリアが実効的に増大した可能性が考えられる.
3.カソード構造を最適化することによるエミッション特性の改善
従来の3極構造エミッターでは,カソード直前に存在する電位障壁が電子放出効率を抑制していた(約0.1〜0.3%).この電位障壁を軽減させるために,カソード近傍に新しい電極を導入した.この4極構造により,ダイヤモンド電子エミッターを作製し,電子エミッション特性を測定した結果,電子放出効率の改善(1%以上)に成功した.

Report

(2 results)
  • 2001 Annual Research Report
  • 2000 Annual Research Report
  • Research Products

    (10 results)

All Other

All Publications (10 results)

  • [Publications] Tetsuro Maki: "The Great Improvement of Surface Smoothness of CaF_2 in Pulsed Laser Deposition even under the Two-photon Absorption Process"in Applied Surface Science. (to be published).

    • Related Report
      2001 Annual Research Report
  • [Publications] Takeshi Kobayashi: "PLD Growth of CaF_2 for Fabrication of Diamond MIS Structure"The 2nd CREST Symp. on "Function Evolution of Materials and Devices based on Electron/Photon related Phenomena. 57-57 (2001)

    • Related Report
      2001 Annual Research Report
  • [Publications] Takeshi Hosomi: "Surface Conduction of Diamond Film Induced by High-Temperature CaF_2 Deposition"New Diamond and Frontier Carbon Technology. 11・5. 325-329 (2001)

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      2001 Annual Research Report
  • [Publications] Tetsuro Maki: "The Great Improvement of Surface Smoothness of CaF_2 in Pulsed Laser Deposition for Fabrication of Diamond MIS Structure"in Function Evolution of Materials and Devices(FEMD) Newsletter. 3・4(to be published). (2002)

    • Related Report
      2001 Annual Research Report
  • [Publications] Takeshi Hosomi: "Enhanced Diamond Film Growth by Xe-Added Microwave Plasma CVD"Thin Solid Films. 368. 269-274 (2000)

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      2000 Annual Research Report
  • [Publications] Tetsuro Maki: "Electronic Properties of Diamond Thin Film for Planar Diamond Electron Emitter Applications"Applied Surface Science. 159-160. 583-587 (2000)

    • Related Report
      2000 Annual Research Report
  • [Publications] Hideki Kawamura: "Fabrication of Planar Diamond Electron Emitters for Flat Panel Displays "Mat.Res.Soc.Symp.Proc.. 558. 155-160 (2000)

    • Related Report
      2000 Annual Research Report
  • [Publications] Akihiro Ito: "Improved Stability of Metal-Insulator-Diamond Semiconductor Interface by Employing CaF_2/Thin BaF_2 Composite Insulator Film"Jpn.J.Appl.Phys.. 39(8). 4755-4756 (2000)

    • Related Report
      2000 Annual Research Report
  • [Publications] Tetsuro Maki: "Advanced Formation Process of Diamond MIS Structures for High-Performance MISFET Applications"The 5th Int.High Temperature Electronics Conference Albuquerque, New Mexico, 2000,. (to be publiched.).

    • Related Report
      2000 Annual Research Report
  • [Publications] Tetsuro Maki: "X-Ray Photoelectron Spectroscopy Characterization of Diamond Thin Film Surfaces for Electronic Device Application"Jpn.J.Appl.Phys.. 39(6B). L575-L578 (2000)

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      2000 Annual Research Report

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Published: 2000-04-01   Modified: 2016-04-21  

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