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ナノ振動子による場の計測

Research Project

Project/Area Number 12F02796
Research Category

Grant-in-Aid for JSPS Fellows

Allocation TypeSingle-year Grants
Section外国
Research Field Microdevices/Nanodevices
Research InstitutionThe University of Tokyo

Principal Investigator

川勝 英樹  東京大学, 生産技術研究所, 教授 (30224728)

Co-Investigator(Kenkyū-buntansha) ALLAIN Pierre  東京大学, 生産技術研究所, 外国人特別研究員
ALLAIN Pierre  東京大学, 生産技術研究所, 外国人特別研究員
Project Period (FY) 2012-04-01 – 2015-03-31
Project Status Completed (Fiscal Year 2014)
Budget Amount *help
¥2,300,000 (Direct Cost: ¥2,300,000)
Fiscal Year 2014: ¥600,000 (Direct Cost: ¥600,000)
Fiscal Year 2013: ¥1,100,000 (Direct Cost: ¥1,100,000)
Fiscal Year 2012: ¥600,000 (Direct Cost: ¥600,000)
Keywords原子間力顕微鏡 / フィールドイオン顕微鏡 / 振動子 / 組成 / AFM / FIM / FEM
Outline of Annual Research Achievements

本年度は、固体表面の近傍で振動する振動子を用いて、振動子に固定した鋭利な探針頂点の原子と試料原子とで構成されるポテンシャルの場のマッピングの方法についての研究を行った。ポテンシャルが独立なパラメーター3個によって規定されるモースポテンシャルを例として取り上げ、それらのパラメーターを高速で同定する手法を開発した。モースポテンシャルを規定するパラメーターは、ポテンシャルの谷の深さEb、谷の幅に相当する長さL、ならびにEbを与える探針試料間距離Z0である。計測において、試料を周波数ωにおいて数オングストローム探針試料間距離方向に位置変調し、それに伴う振動子の周波数変化を計測した。位置変調により、振動子の周波数はDC、1ω、2ωやより高次の成分を有する。ポテンシャルから振動子の周波数を与える式にモースポテンシャルを代入し、式変形により周波数シフトをモースポテンシャルパラメーターを有するベッセル関数として表した。その結果、振動子の1ω成分をゼロに保った状態で、信号2ωとDCを用いるとモースパラメーターを数値演算により求めることが可能であることを示した。

Research Progress Status

26年度が最終年度であるため、記入しない。

Strategy for Future Research Activity

26年度が最終年度であるため、記入しない。

Report

(3 results)
  • 2014 Annual Research Report
  • 2013 Annual Research Report
  • 2012 Annual Research Report
  • Research Products

    (9 results)

All 2014 2013 2012

All Presentation (9 results)

  • [Presentation] All optical non-contact Atomic Force Microscope working with high frequency non-flexural modes towards shorter range chemical contrast2014

    • Author(s)
      Pierre Allain
    • Organizer
      ISSS-7
    • Place of Presentation
      くにびきメッセ(島根県松江市)
    • Year and Date
      2014-11-03
    • Related Report
      2014 Annual Research Report
  • [Presentation] Real time chemical contrast technique by direct detection of local minima of frequency shifts2014

    • Author(s)
      Y.Miyazaki
    • Organizer
      ISSS-7
    • Place of Presentation
      くにびきメッセ(島根県松江市)
    • Year and Date
      2014-11-03
    • Related Report
      2014 Annual Research Report
  • [Presentation] Versatile chemical contrast mapping technique by direct detection of local minima of frequency shifts -Flexural and torsional modes-2014

    • Author(s)
      Pierre Allain
    • Organizer
      NC-AFM2014
    • Place of Presentation
      つくば国際会議場(茨城県)
    • Year and Date
      2014-08-06
    • Related Report
      2014 Annual Research Report
  • [Presentation] Effect of TEM beam on frequency shift curves2014

    • Author(s)
      Y.Kumata
    • Organizer
      NC-AFM2014
    • Place of Presentation
      つくば国際会議場(茨城県)
    • Year and Date
      2014-08-05
    • Related Report
      2014 Annual Research Report
  • [Presentation] 光励振式UHVAFMによるラテラルモード化 : 化学的同定法2014

    • Author(s)
      Damiron Denis
    • Organizer
      第61回応用物理学会春季学術講演会
    • Place of Presentation
      青山学院大学(神奈川)
    • Year and Date
      2014-03-19
    • Related Report
      2013 Annual Research Report
  • [Presentation] 準結晶 : カラーAFMのベンチマークサンプル2014

    • Author(s)
      Allain Pierre
    • Organizer
      第61回応用物理学会春季学術講演会
    • Place of Presentation
      青山学院大学(神奈川)
    • Year and Date
      2014-03-19
    • Related Report
      2013 Annual Research Report
  • [Presentation] Controlling Tip Sample Distance at the Local Minima of Torsional Frequency Shift-Towards Chemical Contrast Imagineg with the Torsional Mode2014

    • Author(s)
      Hideki Kawakatsu
    • Organizer
      INTERNATIONAL NANOTRIBOLOGY FORUM Kerala 2014 Friction & Wear at the Nanoscale
    • Place of Presentation
      Kerala (India)
    • Year and Date
      2014-01-10
    • Related Report
      2013 Annual Research Report
  • [Presentation] 自己組織化単分子膜振動は電界イオン顕微鏡で観察2013

    • Author(s)
      Pierre Allain, 西澤 英伸, 本田 幸大, 他
    • Organizer
      第60回応用物理学会春季学術講演会
    • Place of Presentation
      神奈川工科大学
    • Year and Date
      2013-03-28
    • Related Report
      2012 Annual Research Report
  • [Presentation] Development of Atom Probe Atomic Forces Microscope for Chemical Identification2012

    • Author(s)
      西澤 英伸, Pierre Allain, 小林 大, 他
    • Organizer
      ICSPM20
    • Place of Presentation
      沖縄かりゆしアーバンリゾート
    • Year and Date
      2012-12-18
    • Related Report
      2012 Annual Research Report

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Published: 2013-04-25   Modified: 2024-03-26  

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