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時分割DXAFS-PEEMの開発と固体表面上の光励起-電子移動過程の直接観測

Research Project

Project/Area Number 13J04364
Research Category

Grant-in-Aid for JSPS Fellows

Allocation TypeSingle-year Grants
Section国内
Research Field Physical chemistry
Research InstitutionInstitute for Molecular Science

Principal Investigator

上村 洋平  分子科学研究所, 物質分子科学研究領域, 助教

Project Period (FY) 2013
Project Status Completed (Fiscal Year 2013)
Budget Amount *help
¥1,100,000 (Direct Cost: ¥1,100,000)
Fiscal Year 2013: ¥1,100,000 (Direct Cost: ¥1,100,000)
KeywordsXAFS / 時間分解 / 光触媒 / 電子移動
Research Abstract

平成25年度は、酸化タングステンの光励起状態について、茨城県つくば市のフォトンファクトリー、及び兵庫県佐用郡佐用町のX線自由電子レーザーSACLAを用いて、時分割XAFS測定を行った。フォトンファクトリーの実験では、WO3の懸濁液に400nmのレーザーを照射し、その時のWL3吸収端のXAFSスペクトルの変化を観測した。SALCAの実験では、放射光での100psの時間分解能に対して、フェムト秒の時間領域で起こる変化の観測を試みた。フォトンファクトリーの実験では、WL3吸収端が光照射前後で顕著な変化が観測された。これは、光吸収によりWO3で励起電子が生じたことに由来するものと考えられた。一方SACLAの実験では、芳しい結果が得られなかったが、フェムト秒のX線を使った実験でのノウハウが得られた。SACLAの実験については、実験を継続してゆく必要がある。
このように、平成25年度は不均一系における光励起状態観測実験に従事した。本年度フォトンファクトリーの実験で得られた結果から、光触媒などの固体触媒上での電子移動について、XAFSを用いることで固体触媒の光励起状態の局所構造変化・電子状態の変化が明らかになった。本研究課題の目標であった、固体触媒表面上での電子移動過程の解明に向けて、XAFSを用いることの有効性が確認された。X線をプローブとするPEEMであれば、電子移動の時空間情報が得られることが期待される。

Current Status of Research Progress
Current Status of Research Progress

2: Research has progressed on the whole more than it was originally planned.

Reason

光触媒の光励起過程について、時分割XAFS測定によってその励起状態の観測に成功したから。この手法では光触媒の励起状態の観測は出来ていなかったが、今回はじめて成功した。XAFSでは局所構造変化を明らかにできるため、今後発展が期待されるから。

Strategy for Future Research Activity

本研究課題は、平成25年度で終了となった(研究代表者が常勤職となったため)。しかしながら、今後もXAFSによる光励起過程の観測を継続する。今後は助触媒へのキャリアの移動について、検討を行う。

Report

(1 results)
  • 2013 Annual Research Report
  • Research Products

    (2 results)

All 2014

All Journal Article (2 results) (of which Peer Reviewed: 1 results)

  • [Journal Article] In Situ Picosecond XAFS Study of an Excited State of Tungsten Oxide2014

    • Author(s)
      Y. Uemura, H. Uehara, Y. Niwa, S. Nozawa, T. Sato, S. Adachi, B. Ohtani, S. Takakusagi, K. Asakura
    • Journal Title

      Chemistry Letters

      Volume: (印刷中) Issue: 7 Pages: 977-979

    • DOI

      10.1246/cl.140144

    • NAID

      130004868227

    • Related Report
      2013 Annual Research Report
    • Peer Reviewed
  • [Journal Article] XAFS測定の最前線-軽薄短小の30年と次世代光源への期待2014

    • Author(s)
      朝倉清高, 上村洋平
    • Journal Title

      表面科学

      Volume: 35 Pages: 128-134

    • NAID

      130004486877

    • Related Report
      2013 Annual Research Report

URL: 

Published: 2014-01-29   Modified: 2024-03-26  

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