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反強磁性薄膜材料の電子波による研究

Research Project

Project/Area Number 15656011
Research Category

Grant-in-Aid for Exploratory Research

Allocation TypeSingle-year Grants
Research Field Thin film/Surface and interfacial physical properties
Research InstitutionNagoya University

Principal Investigator

丹司 敬義  名古屋大学, 大学院・工学研究科, 助教授 (90125609)

Co-Investigator(Kenkyū-buntansha) 川崎 忠寛  名古屋大学, 大学院・工学研究科, 助手 (10372533)
田中 成泰  名古屋大学, 理工科学総合研究センター, 講師 (70217032)
Project Period (FY) 2003 – 2005
Project Status Completed (Fiscal Year 2005)
Budget Amount *help
¥2,900,000 (Direct Cost: ¥2,900,000)
Fiscal Year 2005: ¥1,000,000 (Direct Cost: ¥1,000,000)
Fiscal Year 2004: ¥900,000 (Direct Cost: ¥900,000)
Fiscal Year 2003: ¥1,000,000 (Direct Cost: ¥1,000,000)
Keywords反強磁性体 / 電子回折 / 磁性金属多層膜 / Co / Cu / 電子線回析 / 巨大磁気抵抗効果 / 酸化ニッケル / 制限視野電子回折 / 高干渉性電子線
Research Abstract

本研究では、まず、試料となる反強磁性単結晶薄膜を作製した。この薄膜は、電子線の入射方向、即ち、膜面にほぼ垂直な方向にすべてのサイトのスピンがそろっている結晶面を持つ必要がある。この試料を用い、200kV電界放出形透過電子顕微鏡を使って電子回折斑点中の異常を検出することを目的とした。当初、反強磁性体である、酸化ニッケル単結晶を用いたが、この結晶には、スピンが反平行に並ぶであろう(110)面が、3種類あり、観察面を対応する面に合わせる事が容易ではなかった。そこで、強磁性層と非磁性層を交互に積層した金属多層膜[Co(4nm)/Cu(0.9nm)]_<20>でその磁気特性から強磁性層中の磁化が反平行に積層していると思われる試料の断面を観察したのだが,超格子の周期が約5nmと少し長すぎたため,電子回折で十分に回折波を分離できなかった。また、Co層のさらに薄い[Co(2nm)/Cu(0.7nm)]_<20>の試料を作製し断面観察した。しかしながら、予想されたビームのスプリット(4x10^<-4>rad位か)は観察されなかった。[Co(2nm)/Cu(0.7nm)]_<20>では、約40%の磁気抵抗効果が観察されているのだが、同じ試料を電子線ホログラフィで断面からCo層の磁化状態を観察したところ、2〜4周期のCo層が平行配列した上で、交互に並んでいるのが観察された。これはCo相内に、磁区構造が存在するためであろうと考えられる。従って、回折ビームのスプリットは予想よりもさらに小さく、今回は分離が不可能であったものと思われる。残念ながら本研究では電子回折による反強磁性配列の観察に成功しなかったが、試料の磁化に影響を与えない、磁気シールド対物レンズと、1x10^<-6>rad以上の平行性を持った電子線、および、50m以上のカメラ長を用意する事ができれば、必ずしも不可能ではないと考えている。

Report

(3 results)
  • 2005 Annual Research Report
  • 2004 Annual Research Report
  • 2003 Annual Research Report
  • Research Products

    (14 results)

All 2005 2004 Other

All Journal Article (10 results) Book (1 results) Publications (3 results)

  • [Journal Article] Development of a Real-Time Stereo Transmission Electron Microscope.2005

    • Author(s)
      T.Tanji, H.Tanaka, T.Kojima
    • Journal Title

      J.Electron Microsc 54・3

      Pages: 215-222

    • NAID

      10016856151

    • Related Report
      2005 Annual Research Report
  • [Journal Article] Development of a real-time stereo TEM.2005

    • Author(s)
      H.Tanaka, T.Kojima, H.Tsuruta, J.Chen, T.Tanji, M.Ichihashi
    • Journal Title

      J.Materials Science (in press)

    • Related Report
      2005 Annual Research Report
  • [Journal Article] 電子線ホログラフィの高分解能化・高性能化2005

    • Author(s)
      丹司敬義
    • Journal Title

      セラミックス 40・11

      Pages: 943-948

    • Related Report
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  • [Journal Article] Phase transmission electron microscopy with aberration correction based on active defocus modulation : dynamic observation of surface atom movement.2005

    • Author(s)
      Y.Takai, K.Nishikata, T.Kawasaki, Y.Kimura
    • Journal Title

      Surface and Interface Analysis 37・2

      Pages: 248-251

    • Related Report
      2005 Annual Research Report
  • [Journal Article] Development of a Real-Time Stereo Transmission Electron Microscope.2005

    • Author(s)
      T.Tanji ほか3名
    • Journal Title

      Journal of Electron Microscopy 54(in press)

    • NAID

      10016856151

    • Related Report
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  • [Journal Article] Effective Phase Correction Function for High-Resolution Exit Wave Reconstruction by a Three-Dimensional Fourier Filtering Method.2005

    • Author(s)
      T.Kawasaki ほか3名
    • Journal Title

      Ultramicroscopy 102・2

      Pages: 127-139

    • Related Report
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  • [Journal Article] Direct Observation of Electrostatic Microfields by Four-Electron-Wave Interference Using Two Electron Biprisms.2004

    • Author(s)
      T.Tanji ほか3名
    • Journal Title

      Journal of Electron Microscopy 53・6

      Pages: 577-582

    • NAID

      10014320429

    • Related Report
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    • Author(s)
      丹司敬義 ほか3名
    • Journal Title

      電気学会論文誌C 124・12

      Pages: 2497-2498

    • Related Report
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  • [Journal Article] Off-axis Electron Holography without Fresnel Fringes.2004

    • Author(s)
      T.Tanji ほか2名
    • Journal Title

      Ultramicroscopy 101・2-4

      Pages: 265-269

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  • [Journal Article] Practical Method to Determine the Filter Shape Function used in the Three-Dimensional Fourier Filtering Method.2004

    • Author(s)
      T.Kawasaki ほか2名
    • Journal Title

      Journal of Electron Microscopy 53・3

      Pages: 271-275

    • NAID

      10013316243

    • Related Report
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  • [Book] Imaging Magnetic Structures using TEM Method.(in Handbook of Microscopy for Nanotechnology)(eds.N.Yao and Z.L.Wang)2005

    • Author(s)
      T.Tanji
    • Total Pages
      32
    • Publisher
      Kluwer Academic Publishers, Boston
    • Related Report
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  • [Publications] T.Tanji 他3名: "Evaluation of high-precision phase-shifting electron holography by using hologram simulation."Surface and Interface Analysis. 35・2. 6065 (2003)

    • Related Report
      2003 Annual Research Report
  • [Publications] T.Tanji 他3名: "Observation of Magnetic Multilayers by Electron Holography."Microscopy and Microanalysis. 10・1. 146-152 (2004)

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  • [Publications] S.Tanaka, T.Tanji 他5名: "Transmission Electron Microscopy Study of an AlN Nucleation layer for the Growth of GaN on a 7-Degree Off-Oriented (001) Si Substrate by Metalorganic Vapor Phase Epitaxy."J.Crystal Growth. 260・3-4. 360-365 (2004)

    • Related Report
      2003 Annual Research Report

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Published: 2003-04-01   Modified: 2016-04-21  

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