| Budget Amount *help |
¥48,100,000 (Direct Cost: ¥48,100,000)
Fiscal Year 2008: ¥3,200,000 (Direct Cost: ¥3,200,000)
Fiscal Year 2007: ¥3,600,000 (Direct Cost: ¥3,600,000)
Fiscal Year 2006: ¥8,400,000 (Direct Cost: ¥8,400,000)
Fiscal Year 2005: ¥27,300,000 (Direct Cost: ¥27,300,000)
Fiscal Year 2004: ¥5,600,000 (Direct Cost: ¥5,600,000)
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| Research Abstract |
高温酸化物イオン伝導体をガス雰囲気中で電圧印加、加熱しながら、その内部の電位分布を観察し、ヘテロ接触界面における物理現象の解明することを目的に、電圧導入加熱試料ホルダーの試作と新観察技術の開発, 電子顕微鏡内ガス導入システムを試作し、試作薄膜の電解質-電極界面の高分解能観察、電子線ホログラフィーを行った。そして, 真空中, 室温にてPt電極をつけたGDCおよび YSZに電圧を印加し, 内部電位の変化を計測し、酸素イオンおよび酸素イオン欠陥の不均一分布を可視化した。また、加熱による界面近傍内部電位の変化を示すことができた。
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