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周波数可変マイクロ波プローブ顕微鏡による強誘体ドメインダイナミックスの解明

Research Project

Project/Area Number 16760542
Research Category

Grant-in-Aid for Young Scientists (B)

Allocation TypeSingle-year Grants
Research Field Inorganic materials/Physical properties
Research InstitutionTokyo Institute of Technology

Principal Investigator

掛本 博文  東京工業大学, 大学院・理工学研究科, 助手 (10334509)

Project Period (FY) 2004 – 2005
Project Status Completed (Fiscal Year 2005)
Budget Amount *help
¥3,800,000 (Direct Cost: ¥3,800,000)
Fiscal Year 2005: ¥800,000 (Direct Cost: ¥800,000)
Fiscal Year 2004: ¥3,000,000 (Direct Cost: ¥3,000,000)
Keywordsマイクロ波 / 強誘電体 / 微視的誘電率 / チタン酸バリウム / 分解能・測定確度 / 積層セラミックスキャパシタ / 高周波誘電特性 / 非接触測定法 / 強誘電体・誘電体 / マイクロ波反射強度 / 電磁界解析 / 有限差分時間領域法
Research Abstract

最近、誘電体を用いたデバイスは,小型化され,使用周波数が高くなっている。このため,微視的な分極応答の取得が出来,高周波測定で頻繁に生じる共振現象を回避し,かつ周波数可変な測定法の開発が必要である。
本研究では,高周波領域における誘電体・微視領域の誘電率測定装置の開発を行った。これまで,高周波領域における誘電体・微視領域の誘電率測定は,同軸管共振器に取り付けられたプローブを試料に接触させて,試料の静電容量による共振周波数のシフトを利用して測定が行われて来た。しかし,この測定方法では,本質的に共振周波数以外での測定は不可能であった。本研究では,新たに測定用単針を試料と接触させずに試料からの反射マイクロ波を解析して測定を行った。
試作したマイクロ波非接触プローブを誘電体試料に近づけると,試料表面で、マイクロ波の位相が90°になった時,試料がマイクロ波を透過(一部は吸収,試料裏面で反射)するようになり,反射強度に最小値が現れることを見出した。この最小値を用いて,試料の誘電率の計算方法を考案し,確かな精度で測定できることを確認した。
この研究は,国内外で10回以上の発表及び,6本以上の論文の公表に至り,結果として活発な研究活動を行えることが出来た。
現在は,最終的な課題である典型的な強誘電体であるチタン酸バリウム(BaTiO_3)の誘電緩和メカニズムの調査を予定している。BaTiO_3は,Floating Zone法により単結晶を得ており,上記測定方法で,周波数を変え,BaTiO_3・微視領域の誘電率測定の取得が可能となった。
しかし測定は,高い分解能と測定確度を保持しながらの測定であるので,指導原理として,Kirchhoffの回折理論を用いて同軸線開口部からの電界強度や分解能について解析を始め,実験は,補助的にBaTiO_3系積層セラミックスキャパシタのミクロ構造の測定を行っている。BaTiO_3の微視的誘電率分布も含め,研究成果は,2006年日本セラミックス協会・年会と応用物理学会春季講演で発表を行う予定である。

Report

(2 results)
  • 2005 Annual Research Report
  • 2004 Annual Research Report
  • Research Products

    (12 results)

All 2006 2005 2004

All Journal Article (12 results)

  • [Journal Article] Dielectric permitivity mapping with non-contact microwave probe for dielectric materials2006

    • Author(s)
      H.Kakemoto, S-M.Nam, S.Wada, T.Tsurumi
    • Journal Title

      Proc.of 6th Pacific Rim Conference on Ceramic and Glass Technology (in press)(accept for publication)

    • Related Report
      2005 Annual Research Report
  • [Journal Article] High frequency dielectric mapping using un-contact probe for dielectric materials2006

    • Author(s)
      H.Kakemoto, S-M.Nam, S.Wada, T.Tsurumi
    • Journal Title

      Key engineering ceramics (in press)(accept for publication)

    • NAID

      10022542520

    • Related Report
      2005 Annual Research Report
  • [Journal Article] High-Frequency Dielectric Measurement using Non-Contact Probe for Dielectric Materials2006

    • Author(s)
      H.Kakemoto, S-M.Nam, S.Wada, T.Tsurumi
    • Journal Title

      Japanese Journal of Applied Physics (in press)(accept for publication)

    • Related Report
      2005 Annual Research Report
  • [Journal Article] Measurement of microwave reflection coefficient of dielectric materials using a single micro-probe and its electromagnetic analysis2005

    • Author(s)
      H.Kakemoto, S.Wada, T.Tsurumi
    • Journal Title

      Key engineering ceramics 301

      Pages: 125-128

    • Related Report
      2005 Annual Research Report
  • [Journal Article] Microwave reflection intensity measurement for dielectric materials using a single probe2005

    • Author(s)
      H.Kakemoto, S.Wada, T.Tsurumi
    • Journal Title

      Journal of the European Ceramic Society (in press)(accept for publication)

    • Related Report
      2005 Annual Research Report
  • [Journal Article] Dielectric measurement using non-contact microwave single probe for dielectric materials2005

    • Author(s)
      H.Kakemoto, S-M.Nam, S.Wada, T.Tsurumi
    • Journal Title

      Journal of Electroceramics (in press)(accept for publication)

    • Related Report
      2005 Annual Research Report
  • [Journal Article] Reflection intensity measurement of dielectric material using a microwave single probe and its high frequency analysis2005

    • Author(s)
      H.Kakemoto, S.Wada, T.Tsurumi
    • Journal Title

      Electroceramics in Japan VIII, Key Engineering Materials (印刷中)

    • Related Report
      2004 Annual Research Report
  • [Journal Article] Microwave Reflection Intensity Measurement for Dielectric Material Using a Single probe2005

    • Author(s)
      H.Kakemoto, S.Wada, T.Tsurumi
    • Journal Title

      Journal of the European Ceramic Society (印刷中)

    • Related Report
      2004 Annual Research Report
  • [Journal Article] マイクロ波プローブによる誘電体の非接触・誘電率測定2005

    • Author(s)
      掛本博文, 和田智志, 鶴見敬章
    • Journal Title

      日本セラミックス協会2005年・年会 (印刷中)

    • NAID

      130006975106

    • Related Report
      2004 Annual Research Report
  • [Journal Article] マイクロ波単針を用いた誘電体の非接触伝率測定2005

    • Author(s)
      掛本博文, 和田智志, 鶴見敬章
    • Journal Title

      第52回応用物理学関係連合講演会 (印刷中)

    • Related Report
      2004 Annual Research Report
  • [Journal Article] Microwave reflection intensity measurement for dielectric materials using a single probe2004

    • Author(s)
      H.Kakemoto, S.Wada, T.Tsurumi
    • Journal Title

      Third international conference on microwave materials and their applications

      Pages: 202-202

    • Related Report
      2004 Annual Research Report
  • [Journal Article] マイクロ波単針を用いた反射強度測定とその高周波数解析2004

    • Author(s)
      掛本博文, 和田智志, 鶴見敬章
    • Journal Title

      第24回電子材料研究討論会

      Pages: 27-27

    • Related Report
      2004 Annual Research Report

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Published: 2004-04-01   Modified: 2016-04-21  

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