| Project/Area Number |
18206013
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| Research Category |
Grant-in-Aid for Scientific Research (A)
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| Allocation Type | Single-year Grants |
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| Section | 一般 |
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| Research Field |
Materials/Mechanics of materials
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| Research Institution | Tokyo Institute of Technology |
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Principal Investigator |
KISHIMOTO Kikuo Tokyo Institute of Technology, 大学院・理工学研究科, 教授 (30111652)
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| Co-Investigator(Kenkyū-buntansha) |
INOUE Hirotsugu 東京工業大学, 大学院・理工学研究科, 准教授 (90193606)
URAGO Masataka 慶応義塾大学, 大学院・システムデザイン・マネージメント科, 准教授 (50302948)
OMIYA Masaki 慶応義塾大学, 理工学部, 専任講師 (30302938)
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| Project Period (FY) |
2006 – 2008
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| Project Status |
Completed (Fiscal Year 2008)
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| Budget Amount *help |
¥48,620,000 (Direct Cost: ¥37,400,000、Indirect Cost: ¥11,220,000)
Fiscal Year 2008: ¥5,330,000 (Direct Cost: ¥4,100,000、Indirect Cost: ¥1,230,000)
Fiscal Year 2007: ¥7,540,000 (Direct Cost: ¥5,800,000、Indirect Cost: ¥1,740,000)
Fiscal Year 2006: ¥35,750,000 (Direct Cost: ¥27,500,000、Indirect Cost: ¥8,250,000)
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| Keywords | 界面強度 / 薄膜 / ナノインデンターション / マルチピール試験 / 結合力モデル / 高分子 / セラミックス / 界面 / ナノインデンテーション / 紫外線 / 不均質材料 / ピール試験 / 圧電材料 / SH波 |
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| Research Abstract |
半導体デバイスやマクロセンサーなどのマイクロシステムは種々の材料から構成される多層薄膜構造体であることが特徴である. 本研究では, このような多層薄膜構造体の機能・寿命特性を支配する表面・界面の力学場パラメータを明らかにすることを目的として, 従来のナノインデンテーション試験, マルチステージピール試験のよるはく離過程の観察・評価に加えて, 多軸駆動型はく離法を新たに開発し, 界面特性を精度良く評価できる手法を提示するとともに, 界面強度特性を結合力モデルによって考慮した有限要素解析を行い, はく離進展の挙動を明らかにしている.
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