Development of novel ceramic device by controlling dislocation array
Project/Area Number |
18206066
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Research Category |
Grant-in-Aid for Scientific Research (A)
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Allocation Type | Single-year Grants |
Section | 一般 |
Research Field |
Physical properties of metals
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Research Institution | The University of Tokyo |
Principal Investigator |
IKUHARA Yuichi The University of Tokyo, 大学院・工学系研究科, 教授 (70192474)
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Co-Investigator(Kenkyū-buntansha) |
山本 剛久 東京大学, 大学院・新領域創成科学研究科, 准教授 (20220478)
柴田 直哉 東京大学, 大学院・工学系研究科, 助教 (10376501)
溝口 照康 東京大学, 大学院・工学系研究科, 助教 (70422334)
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Project Period (FY) |
2006 – 2008
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Project Status |
Completed (Fiscal Year 2008)
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Budget Amount *help |
¥47,060,000 (Direct Cost: ¥36,200,000、Indirect Cost: ¥10,860,000)
Fiscal Year 2008: ¥6,890,000 (Direct Cost: ¥5,300,000、Indirect Cost: ¥1,590,000)
Fiscal Year 2007: ¥22,490,000 (Direct Cost: ¥17,300,000、Indirect Cost: ¥5,190,000)
Fiscal Year 2006: ¥17,680,000 (Direct Cost: ¥13,600,000、Indirect Cost: ¥4,080,000)
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Keywords | ナノ物性 / 転位 / 転位構造 / バイクリスタル / 小傾角粒界 / 配列制御 / デバイス / 高分解能電子顕微鏡 / 薄膜 / セラミックス |
Research Abstract |
セラミックスの優れた特性を活用した高性能でかつ新規な機能を有したデバイスを開発するために,"転位"並びに"転位偏析"を積極的に利用した全く新しいセラミックスデバイスを開発することを目的とした研究を行った.その結果,ねじり成分を高精度に制御することにより転位の配列を制御することができるということを見出した.さらに,高精度に制御された転位にドーパントを添加し,ナノ細線の作製もおこなった.その結果,これまでの10 倍量の転位ナノ細線の作成に成功した.転位ナノ細線近傍の高分解能計測から,ドーパント偏析メカニズムと機能発現メカニズムを明らかにした.本研究を通し,転位配列の制御法を確立し,高密度ナノ細線の創成指針を見出すことができた.
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Report
(4 results)
Research Products
(107 results)
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[Journal Article] Giant thermoelectric Seebeck coefficient of two-dimensional electron gas in SrTiO32007
Author(s)
H.Ohta, S.Kim, Y.Mune, T.Mizoguchi, K.Nomura, S.Ohta, T.Nomura, Y.Nakanishi, Y. Ikuhara, M. Hirano, H.Hosono and K. Koumoto
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Journal Title
Nature Materials 6
Pages: 129-134
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Peer Reviewed
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[Journal Article] Giant thermoelectric Seebeck coefficient of two-dimensional electron gas in SrTiO32007
Author(s)
H. Ohta, S. Kim, Y. Mune, T. Mizoguchi, K. Nomura, S. Ohta, T. Nomura, Y. Nakanishi, Y. Ikuhara, M. Hirano, H. Hosono and K. Koumoto
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Journal Title
Nature Materials 6(2)
Pages: 129-134
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[Presentation] Simulating atomic resolution STEM images of non-periodic samples2008
Author(s)
S. D. Findlay, A. J. D'Alfonso, L. J. Al I en, M. P. Oxl ey, P. D. Nel 1 is t, E. C. Cosgriff, G. Behan, A. Kirkland, N. Shibata, T. Mizoguchi, and Y. Ikuhara
Organizer
Microscopy and Microanalysis
Place of Presentation
Albuquerque, New Mexico, USA
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