| Budget Amount *help |
¥16,640,000 (Direct Cost: ¥14,900,000、Indirect Cost: ¥1,740,000)
Fiscal Year 2008: ¥3,510,000 (Direct Cost: ¥2,700,000、Indirect Cost: ¥810,000)
Fiscal Year 2007: ¥4,030,000 (Direct Cost: ¥3,100,000、Indirect Cost: ¥930,000)
Fiscal Year 2006: ¥9,100,000 (Direct Cost: ¥9,100,000)
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| Research Abstract |
本研究では小型かつ連続発振可能なテラヘルツ光源であるタンネットダイオードを用いたイメージングシステムを用い, 空間分解能および検出電圧の向上, さらにイメージングシステムの増設による測定時間の短縮とS/N比の向上を図り, THzイメージングによる絶縁劣化現象の検出を検討した. その結果, 透過・反射イメージの同時取得とS/N比の向上を可能にし, 積層基板内で発生したイオンマイグレーション現象の検出とポリエチレンシート内に生じた水トリーを検出できることを明らかにした.
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