| Project/Area Number |
18360458
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| Research Category |
Grant-in-Aid for Scientific Research (B)
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| Allocation Type | Single-year Grants |
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| Section | 一般 |
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| Research Field |
Nuclear engineering
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| Research Institution | Japan Atomic Energy Agency |
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Principal Investigator |
OHSHIMA Takeshi Japan Atomic Energy Agency, 量子ビーム応用研究部門, 研究主幹 (50354949)
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| Co-Investigator(Kenkyū-buntansha) |
ONODA Shinobu 独立行政法人日本原子力研究開発機構, 量子ビーム応用研究部門, 研究職 (30414569)
伊藤 久義 独立行政法人日本原子力研究開発機構, 研究主席 (40354930)
神谷 富裕 独立行政法人日本原子力研究開発機構, 研究主幹 (70370385)
佐藤 隆博 独立行政法人日本原子力研究開発機構, 研究職 (10370404)
中野 逸夫 岡山大学, 自然科学研究所, 教授 (90133024)
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| Co-Investigator(Renkei-kenkyūsha) |
ITOH Hisayoshi 独立行政法人日本原子力研究開発機構, 量子ビーム応用研究部門, 研究主席 (40354930)
KAMIYA Tomihiro 独立行政法人日本原子力研究開発機構, 放射線高度利用施設部, 研究主幹 (70370385)
SATOH Takahiro 独立行政法人日本原子力研究開発機構, 放射線高度利用施設部, 研究職 (10370404)
NAKANO Itsuo 岡山大学, 自然科学研究所, 教授 (90133024)
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| Project Period (FY) |
2006 – 2008
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| Project Status |
Completed (Fiscal Year 2008)
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| Budget Amount *help |
¥16,960,000 (Direct Cost: ¥14,800,000、Indirect Cost: ¥2,160,000)
Fiscal Year 2008: ¥2,210,000 (Direct Cost: ¥1,700,000、Indirect Cost: ¥510,000)
Fiscal Year 2007: ¥7,150,000 (Direct Cost: ¥5,500,000、Indirect Cost: ¥1,650,000)
Fiscal Year 2006: ¥7,600,000 (Direct Cost: ¥7,600,000)
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| Keywords | 放射線理工学 / 耐放射線性検出器 / 炭化ケイ素(SiC) / p^+n及びn^+pダイオード / 電荷収集効率 / 照射損傷 / 非イオン化エネルギー損失 / n^+pダイオード / イオン誘起過渡電流(TIBIC) / 電荷収集効率(CCE) / 少数キャリア拡散長 / イオンビーム誘起過度電流(TIBIC) |
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| Research Abstract |
耐放射線性炭化ケイ素(SiC)粒子検出器開発に必要な基礎データとして、ベータ線、アルファ線及びイオン入射により、SiCダイオードに発生する電荷の収集効率(CCE)を調べた。アルファ線等では、ほぼ100%のCCEを観測しSiCの検出器応用の有効性を実証した。一方、Niのような重イオンではSiCの物性に起因するCCEの低下が見出された。更に、電子線等により損傷を加えたSiCダイオードのCCE低下を調べ、優れた耐性を明らかにした。
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