Induced Charge Evaluation for the Development of Particle Detectors Fabricated on Silicon Carbide
| Project/Area Number |
18360458
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| Research Category |
Grant-in-Aid for Scientific Research (B)
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| Allocation Type | Single-year Grants |
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| Section | 一般 |
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| Research Field |
Nuclear engineering
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| Research Institution | Japan Atomic Energy Agency |
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Principal Investigator |
OHSHIMA Takeshi Japan Atomic Energy Agency, 量子ビーム応用研究部門, 研究主幹 (50354949)
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| Co-Investigator(Kenkyū-buntansha) |
ONODA Shinobu 独立行政法人日本原子力研究開発機構, 量子ビーム応用研究部門, 研究職 (30414569)
伊藤 久義 独立行政法人日本原子力研究開発機構, 研究主席 (40354930)
神谷 富裕 独立行政法人日本原子力研究開発機構, 研究主幹 (70370385)
佐藤 隆博 独立行政法人日本原子力研究開発機構, 研究職 (10370404)
中野 逸夫 岡山大学, 自然科学研究所, 教授 (90133024)
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| Co-Investigator(Renkei-kenkyūsha) |
ITOH Hisayoshi 独立行政法人日本原子力研究開発機構, 量子ビーム応用研究部門, 研究主席 (40354930)
KAMIYA Tomihiro 独立行政法人日本原子力研究開発機構, 放射線高度利用施設部, 研究主幹 (70370385)
SATOH Takahiro 独立行政法人日本原子力研究開発機構, 放射線高度利用施設部, 研究職 (10370404)
NAKANO Itsuo 岡山大学, 自然科学研究所, 教授 (90133024)
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| Project Period (FY) |
2006 – 2008
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| Project Status |
Completed (Fiscal Year 2008)
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| Budget Amount *help |
¥16,960,000 (Direct Cost: ¥14,800,000、Indirect Cost: ¥2,160,000)
Fiscal Year 2008: ¥2,210,000 (Direct Cost: ¥1,700,000、Indirect Cost: ¥510,000)
Fiscal Year 2007: ¥7,150,000 (Direct Cost: ¥5,500,000、Indirect Cost: ¥1,650,000)
Fiscal Year 2006: ¥7,600,000 (Direct Cost: ¥7,600,000)
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| Keywords | 放射線理工学 / 耐放射線性検出器 / 炭化ケイ素(SiC) / p^+n及びn^+pダイオード / 電荷収集効率 / 照射損傷 / 非イオン化エネルギー損失 / n^+pダイオード / イオン誘起過渡電流(TIBIC) / 電荷収集効率(CCE) / 少数キャリア拡散長 / イオンビーム誘起過度電流(TIBIC) |
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| Research Abstract |
耐放射線性炭化ケイ素(SiC)粒子検出器開発に必要な基礎データとして、ベータ線、アルファ線及びイオン入射により、SiCダイオードに発生する電荷の収集効率(CCE)を調べた。アルファ線等では、ほぼ100%のCCEを観測しSiCの検出器応用の有効性を実証した。一方、Niのような重イオンではSiCの物性に起因するCCEの低下が見出された。更に、電子線等により損傷を加えたSiCダイオードのCCE低下を調べ、優れた耐性を明らかにした。
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Report
(4 results)
Research Products
(45 results)
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[Journal Article] Degradation of Charge Collection Efficiency Obtained for 6H-SiC n+p Diodes Irradiated with Gold Ions2007
Author(s)
T. Ohshima, T. Satoh, M. Oikawa, S. Onoda, S. Hishiki, T. Hirao, T. Kamiya, T. Yokoyama, A. Sakamoto, R. Tanaka, I Nakano, G. Wagner, H. Itoh
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Journal Title
Materials Science Forum 556-557
Pages: 913-916
Related Report
Peer Reviewed
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[Journal Article] Degradation of Charge Collection Efficiency Obtained for 6H-SiC n^+p Diodes Irradiated with Gold Ions2007
Author(s)
T.Ohshima, T.Satoh, M.Oikawa, S.Onoda, S.Hishiki, T.Hirao, T.Kamiya, T.Yokoyama, A.Sakamoto, R.Tanaka, I Nakano, G.Wagner, H.Itoh
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Journal Title
Materials Science Forum 556-557
Pages: 913-916
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[Journal Article] Observation of Charge Collection Efficiency of 6H-SiC n+p Diodes Irradiated with Au-Ions2006
Author(s)
N. Iwamoto, T. Ohshima, T. Satoh, M. Oikawa, S. Onoda, S. Hishiki, T. Hirao, T. Kamiya, T. Yokoyama, A. Sakamoto, R. Tanaka, I. Nakano, G. Wagner, H. Itoh, K. Kawano
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Journal Title
Proceedings of 7th International Workshop on Radiation Effects on Semiconductor Devices for Space Application
Pages: 185-185
Related Report
Peer Reviewed
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[Journal Article] Observation of Charge Collection Efficiency of 6H-SiC n^+p Diodes Irradiated with Au-Ions2006
Author(s)
N.Iwamoto, T.Oshima, T.Satoh, M.Oikawa, S.Onoda, S.Hishiki, T.Hirao, T.Kamiya, T.Yokoyama, A.Sakamoto, R.Tanaka, I.Nakano, G.Wagner, H.Itoh, K.Kawano
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Journal Title
Proceedings of 7th International Workshop on Radiation Effects on Semiconductor Devices for Space Application
Pages: 185-185
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[Presentation] Observation of Charge Collection Efficiency of 6H-SiC n+p Diodes Irradiated with Au-Ions2006
Author(s)
N. Iwamoto, T. Ohshima, T. Satoh, M. Oikawa, S. Onoda, S. Hishiki, T. Hirao, T. Kamiya, T. Yokoyama, A. Sakamoto, R. Tanaka, I. Nakano, G. Wagner, H. Itoh, K. Kawano
Organizer
7th International Workshop on Radiation Effects on Semiconductor Devices for Space Application
Place of Presentation
Takasaki (Japan)
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