Current Testing for Opens and Shorts in SoCs and SiPs

• Project/Area Number: 18500039
• Research Category: Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
• Allocation Type: Single-year Grants
• Section: 一般
• Research Field: Computer system/Network
• Research Institution: The University of Tokushima
• Principal Investigator: HASHIZUME Masaki The University of Tokushima, 大学院・ソシオテクノサイエンス研究部, 教授 (40164777)
• Project Period (FY): 2006 – 2008
• Project Status: Completed (Fiscal Year 2008)
• Budget Amount: ¥4,030,000 (Direct Cost: ¥3,400,000、Indirect Cost: ¥630,000); Fiscal Year 2008: ¥1,300,000 (Direct Cost: ¥1,000,000、Indirect Cost: ¥300,000); Fiscal Year 2007: ¥1,430,000 (Direct Cost: ¥1,100,000、Indirect Cost: ¥330,000); Fiscal Year 2006: ¥1,300,000 (Direct Cost: ¥1,300,000)
• Keywords: SoC, SiP / ディペンダブルコンピューティング / 断線 / 短絡 / 電流テスト / SoC / SiP / CMOS / リード浮き / マイクロコンピュータ

Research Abstract

SoC(System on a Chip), SiP(System in Package)というICおよびそれらを用いた回路製造時に断線や短絡故障が発生する。近年, それらの応用製品の高信頼化要求が高まり, それらの故障を確実に発見する検査法の開発が求められている。本研究ではIC, 回路への電源電流測定によりそれを実現する検査法と検査回路の開発を行い, 従来では見逃す故障も発見できることを明らかにした。

Research Products

• [Journal Article] CMOS ゲート回路を断線センサとして用いた部品結合不良検出法 (2009)
  • Author(s): 小野安季良, 一宮正博, 四柳浩之, 高木正夫, 橋爪正樹
  • Journal Title: エレクトロニクス実装学会誌 Vol.12, No.2 Pages: 137-143
  • Peer Reviewed
• [Journal Article] Open Lead Detection of QFP ICs Using Logic Gates as Open Sensors (2009)
  • Author(s): Akira Ono, Hiroyuki Yotsuyanagi, Masao Takagi, Masaki Hashizume
  • Journal Title: Proc. of International Conference on ElectronicsPackaging 2009 Pages: 434-439
  • Peer Reviewed
• [Journal Article] CMOSゲート回路を断線センサとして用いた部品結合不良検出法 (2009)
  • Author(s): 小野 安季良
  • Journal Title: エレクトロニクス実装学会誌 12 Pages: 137-143
  • Peer Reviewed
• [Journal Article] Current Testble Design of Resistor String DACs for Open Defects (2008)
  • Author(s): Yutaka Hata, Masaki Hashizume, Hiroyuki Yotsuyanagi, Yukiya Miura
  • Journal Title: Proc. of 2008 International Technical Conference on Circuits/Systems, Computers and Communications Pages: 1533-1536
  • Peer Reviewed
• [Journal Article] Open Lead Detection Based on Logical Change Caused by AC Voltage Signal Stimulus (2008)
  • Author(s): Akira Ono, Masahiro Ichimiya, Hiroyuki Yotsuyanagi, Masao Takagi, Masaki Hashizume
  • Journal Title: Proc. of 2008 International Technical Conference on Circuits/Systems, Computers and Communications Pages: 241-244
  • Peer Reviewed
• [Journal Article] Test Method for Detecting Open Leads of Low Voltage LSIs (2008)
  • Author(s): Akira Ono, Masahiro Ichimiya, Hiroyuki Yotsuyanagi, Masao Takagi , Masaki Hashizume
  • Journal Title: Proc. of International Conference on Electronics Packaging 2008 Pages: 457-462
  • Peer Reviewed
• [Journal Article] Current Testable Design of Resistor String DACs for Open Defects (2008)
  • Author(s): Yutaka Hata
  • Journal Title: Proceedings of International Technical Conference on Computer, Circuits/Systems, Computers and Communications Pages: 1533-1536
  • Peer Reviewed
• [Journal Article] Open Lead Detection Based on Logical Change Caused by AC Voltage Signal Stimulus (2008)
  • Author(s): Akira Ono
  • Journal Title: Proceedings of International Technical Conference on Computer, Circuits/Systems, Computers and Communications Pages: 241-244
  • Peer Reviewed
• [Journal Article] Test Method for Detecting Open Leads of Low Voltage LSIs (2008)
  • Author(s): Akira Ono
  • Journal Title: Proceedings of International Conference on Electronics Packaging 2008 Pages: 457-482
  • Peer Reviewed
• [Journal Article] Interconnect Open Detection by Supply Current Testing under AC Electric Field Application (2007)
  • Author(s): Masaki Hashizume, Yuuki Ogata, Mitsuru Tojo, Masahiro Ichimiya, Hiroyuki Yotsuyanagi
  • Journal Title: Proc. of IEEE International Workshop on Current and Defect Based Testing Pages: 25-29
  • Peer Reviewed
• [Journal Article] Current Testable Design of Resistor String DACs (2007)
  • Author(s): Masaki Hashizume, Yutaka Hata, Tomomi Nishida, Hiroyuki Yotsuyanagi, Yukiya Miura
  • Journal Title: Proc. of 16th Asian Test Symposium Pages: 399-403
  • Peer Reviewed
• [Journal Article] est Circuit for Vectorless Open Lead Detection of CMOS Ics (2007)
  • Author(s): Masaki Hashizume, Masahiro Ichimiya, Akira Ono and Hiroyuki Yotsuyanagi
  • Journal Title: IEEE 6-th International Board Test Workshop
  • URL: http://www.molesystems.com/BTW/material/BTW07//Papers/BTW07-Paper%202.3.pdf,
  • Peer Reviewed
• [Journal Article] 交流電界印加時の電流テストによる CMOS LSIのリード浮き検出のための印加交流電圧 (2007)
  • Author(s): 高木正夫, 橋爪正樹, 一宮正博, 四柳浩之
  • Journal Title: エレクトロニクス実装学会誌 Vol.8, No.3 Pages: 219-228
  • NAID: 110006249330
  • Peer Reviewed
• [Journal Article] Open Lead Detection of CMOS Logic Circuits by Low Pressure Probing (2007)
  • Author(s): Ono Akira, Masaki Hashizume, Masahiro Ichimiya, Hiroyuki Yotsuyanagi
  • Journal Title: Proc. of International Conference on Electronics Packaging Pages: 359-364
  • Peer Reviewed
• [Journal Article] 交流電界印加時の電流テストによるCMOS LSIのリード浮き検出のための印加交流電圧 (2007)
  • Author(s): 高木 正夫
  • Journal Title: エレクトロニクス実装学会誌 8 Pages: 219-228
  • Peer Reviewed
• [Journal Article] Interconnect Open Detection by Supply Current Testing under AC Electric Field Application (2007)
  • Author(s): Masaki Hashizume
  • Journal Title: Proc. of IEEE International Workshop on Current and Defect Based Testing Pages: 25-29
  • Peer Reviewed
• [Journal Article] Current Testable Design of Resistor String DACs (2007)
  • Author(s): Masaki Hashizume
  • Journal Title: Proc. of IEEE 16th Asian Test Symposium Pages: 399-403
  • Peer Reviewed
• [Journal Article] Open Lead Detection of CMOS Logic Circuits by Low Pressure Probing (2007)
  • Author(s): Ono Akira
  • Journal Title: Proc. of International Conference on Electronics Packaging 2007 Pages: 359-364
  • Peer Reviewed
• [Journal Article] At Speed Testing of Bus Interconnects in Microcomputers (2006)
  • Author(s): Eiji Tasaka, Masaki Hashizume, Seiichi Nishimoto, Hiroyuki Yotsuyanagi, Takahiro Oie, Ikuro Morita, Toshihiro Kayahara
  • Journal Title: Proc. of IEEE 7th Workshop on RTL and High Level Testing Pages: 123-127
  • Peer Reviewed
• [Journal Article] Current Testing of Interconnect Opens between CMOS LSIs Having Scan Cells (2006)
  • Author(s): Tojo Mitsuru, Masahiro Ichimiya, Hiroyuki Yotsuyanagi, Masaki Hashizume
  • Journal Title: Proc. of IEEE International Workshop on Current and Defect Based Testing Pages: 39-42
  • Peer Reviewed
• [Journal Article] Test Circuit for Open Lead Detection of CMOS ICs Based on Supply Current (2006)
  • Author(s): Masaki Hashizume, Hiroyuki Yotsuyanagi
  • Journal Title: the IEEE European Board Test Workshop
  • URL: http://www.molesystems.com/BTW/material/EBTW06//EBTW06%20Papers/EBTW06-4-1-Hashizume.pdf
  • Peer Reviewed
• [Journal Article] Open Lead Detection Based on Supply Current of CMOS Logic Circuits by AC Voltage Signal Application (2006)
  • Author(s): Masaki Hashizume, Masahiro Ichimiya, Hiroyuki Yotsuyanagi, Takeomi Tamesada
  • Journal Title: Proc. of International Conference on Electronics Packaging Pages: 147-152
  • Peer Reviewed
• [Journal Article] Open Lead Detection Based on Supply Current of CMOS Logic Circuits by AC Voltage Signal Application (2006)
  • Author(s): Masaki Hashizume
  • Journal Title: Proceedings of International Conference on Electronics Packaging 2006 Pages: 147-152
• [Journal Article] Test Circuit for Open Lead Detection of CMOS ICs Based on Supply Current (2006)
  • Author(s): Masaki Hashizume
  • Journal Title: IEEE European Board Test Workshop 2006
• [Journal Article] Current Testing of Interconnect Opens between CMOS LSIs Having Scan Cells (2006)
  • Author(s): Makoto Tojo
  • Journal Title: Proceedings of the IEEE International Workshop on Current and Defect Based Testing Pages: 39-42
• [Journal Article] A BIC Sensor Capable of Adjusting IDDQ Limit in Tests (2006)
  • Author(s): Masato Nakanishi
  • Journal Title: Proceedings of the IEEE 15th Asian Test Symposium Pages: 69-74
• [Journal Article] At Speed Testing of Bus Interconnects in Microcomputers (2006)
  • Author(s): Eiji Tasaka
  • Journal Title: Records of the IEEE 7th Workshop on RTL and High Level Testing Pages: 123-127
• [Presentation] 抵抗ラダー型DACの電流テスト容易化設計 (2009)
  • Author(s): 橋爪正樹, 秦豊, 四柳浩之, 三浦幸也
  • Organizer: 電子情報通信学会総合大会
  • Place of Presentation: 愛媛大学
  • Year and Date: 2009-03-17
• [Presentation] 抵抗ラダー型DAC の電流テスト容易化設計 (2009)
  • Author(s): 橋爪 正樹
  • Organizer: 電子情報通信学会総合大会
  • Place of Presentation: 愛媛大学 (松山市)
  • Year and Date: 2009-03-17
• [Presentation] 検査回路の電源電流測定によるICの電源リード浮き検査能力評価 (2009)
  • Author(s): 小野安季良, 一宮正博, 四柳浩之, 高木正夫, 橋爪正樹
  • Organizer: エレクトロニクス実装学会講演大会
  • Place of Presentation: 関東学院大学
  • Year and Date: 2009-03-11
• [Presentation] QFP ICのリード浮きの電気的検出用回路, (2009)
  • Author(s): 橋爪正樹, 一宮正博, 四柳浩之, 小野安季良, 高木正夫
  • Organizer: エレクトロニクス実装学会講演大会
  • Place of Presentation: 関東学院大学
  • Year and Date: 2009-03-11
• [Presentation] 検査回路の電源電流測定によるICの電源リード浮き検査能力評価 (2009)
  • Author(s): 小野 安季良
  • Organizer: エレクトロニクス実装学会講演大会
  • Place of Presentation: 関東学院大学 (横浜市)
  • Year and Date: 2009-03-11
• [Presentation] QFP ICのリード浮きの電気的検出用回路 (2009)
  • Author(s): 橋爪 正樹
  • Organizer: エレクトロニクス実装学会講演大会
  • Place of Presentation: 関東学院大学(横浜市)
  • Year and Date: 2009-03-11
• [Presentation] PIC16F84A内のバス故障用実時間テストプログラム (2008)
  • Author(s): 嶋本竜也, 田坂英司, 茅原敏広, 四柳浩之, 橋爪正樹
  • Organizer: 電気関係学会四国支部連合大会
  • Place of Presentation: 徳島大学
  • Year and Date: 2008-09-27
• [Presentation] 電流テスト容易化抵抗ストリング型D/A変換器の故障検出能力 (2008)
  • Author(s): 秦豊, 四柳浩之, 橋爪正樹, 三浦幸也
  • Organizer: 電気関係学会四国支部連合大会
  • Place of Presentation: 徳島大学
  • Year and Date: 2008-09-27
• [Presentation] 0.35μm CMOSICの配線断線時の故障動作の実測 (2008)
  • Author(s): 加藤健二, 一宮正博, 四柳浩之, 橋爪正樹
  • Organizer: 電気関係学会四国支部連合大会
  • Place of Presentation: 徳島大学
  • Year and Date: 2008-09-27
• [Presentation] 電流テストによるQFP ICのリード浮き診断回路 (2008)
  • Author(s): 橋爪正樹, 一宮正博, 四柳浩之, 下谷光生, 多田哲生, 小山健
  • Organizer: 電気関係学会四国支部連合大会
  • Place of Presentation: 徳島大学
  • Year and Date: 2008-09-27
• [Presentation] 交流電圧信号印加時の論理値異常によるリード浮き検出回路の試作 (2008)
  • Author(s): 内倉健一, 一宮正博, 四柳浩之, 橋爪正樹
  • Organizer: 交流電圧信号印加時の論理値異常によるリード浮き検出回路の試作
  • Place of Presentation: 徳島大学
  • Year and Date: 2008-09-27
• [Presentation] PIC16F84A内のバス故障用実時間テストプログラム (2008)
  • Author(s): 嶋本 竜也
  • Organizer: 電気関係学会四国支部連合大会
  • Place of Presentation: 徳島大学(徳島市)
  • Year and Date: 2008-09-27
• [Presentation] 電流テスト容易化抵抗ストリング型D/A変換器の故障検出能力 (2008)
  • Author(s): 秦 豊
  • Organizer: 電気関係学会四国支部連合大会
  • Place of Presentation: 徳島大学(徳島市)
  • Year and Date: 2008-09-27
• [Presentation] 0.35μ mCMOS ICの配線断線時の故障動作の実測 (2008)
  • Author(s): 加藤 健二
  • Organizer: 電気関係学会四国支部連合大会
  • Place of Presentation: 徳島大学(徳島市)
  • Year and Date: 2008-09-27
• [Presentation] 電流テストによるQFP ICのリード浮き診断回路 (2008)
  • Author(s): 橋爪 正樹
  • Organizer: 電気関係学会四国支部連合大会
  • Place of Presentation: 徳島大学(徳島市)
  • Year and Date: 2008-09-27
• [Presentation] 交流電圧信号印加時の論理値異常によるリード浮き検出回路の試作 (2008)
  • Author(s): 内倉 健一
  • Organizer: 電気関係学会四国支部連合大会
  • Place of Presentation: 徳島大学(徳島市)
  • Year and Date: 2008-09-27
• [Presentation] Test Circuit for Locating Open Leads of QFP Ics (2008)
  • Author(s): Masaki Hashizume, Akihito Shimoura, Masahiro Ichimiya, Hiroyuki Yotsuyanagi
  • Organizer: IEEE 7-th International Board Test Workshop
  • Place of Presentation: Fort Collins, USA.
  • Year and Date: 2008-09-18
• [Presentation] Test Circuit for Locating Open Leads of QFP ICs (2008)
  • Author(s): Masaki Hashizume
  • Organizer: IEEE 7-th Internat ional Board Test Workshop
  • Place of Presentation: Intel (Fort Collins, U. S. A. )
  • Year and Date: 2008-09-12
• [Presentation] 電流テストによるQFPCPLD IC のリード浮きの検査能力評価 (2008)
  • Author(s): 小野安季良, 一宮正博, 四柳浩之, 高木正夫, 橋爪正樹
  • Organizer: 第22回エレクトロニクス実装学会講演大会
  • Place of Presentation: 東京大学
  • Year and Date: 2008-03-18
• [Presentation] 電流テストによるQFP ICのリード浮き検出を可能にする交流電圧 (2008)
  • Author(s): 小野 安季良
  • Organizer: エレクトロニクス実装学会講演大会
  • Place of Presentation: 東京大学(東京都文教区)
  • Year and Date: 2008-03-18
• [Presentation] Test Circuit for Vectorless Open Lead Detection of CMOS Ics (2007)
  • Author(s): Masaki Hashizume
  • Organizer: IEEE 6-th International Board Test Workshop
  • Place of Presentation: Intel(Fort Collins,U.S.A.)
  • Year and Date: 2007-10-12
• [Presentation] 抵抗ストリング型D/A 変換器の電流テスト容易化設計 (2007)
  • Author(s): 秦豊, 飯野純一, 四柳浩之, 橋爪正樹,三浦幸也
  • Organizer: 電気関係学会四国支部連合大会
  • Place of Presentation: 徳島大学
  • Year and Date: 2007-09-29
• [Presentation] Z80 のバス縮退故障の実時間テストプログラム (2007)
  • Author(s): 嶋本竜也, 田坂英司, 茅原敏広, 四柳浩之, 大家隆弘, 橋爪正樹
  • Organizer: 電気関係学会四国支部連合大会
  • Place of Presentation: 徳島大学
  • Year and Date: 2007-09-29
• [Presentation] 0.35μmCMOS プロセスで試作したICのリード浮きの電流テスト可能性評価 (2007)
  • Author(s): 滝川徳郎, 東條充, 一宮正博, 四柳浩之, 橋爪正樹
  • Organizer: 電気関係学会四国支部連合大会
  • Place of Presentation: 徳島大学
  • Year and Date: 2007-09-29
• [Presentation] 交流電界印加時の電流テストによる試作IC内断線の検査 (2007)
  • Author(s): 東條充, 一宮正博, 四柳浩之, 橋爪正樹
  • Organizer: 電気関係学会四国支部連合大会
  • Place of Presentation: 徳島大学
  • Year and Date: 2007-09-29
• [Presentation] Z80のバス縮退故障の実時間テストプログラム (2007)
  • Author(s): 嶋本 竜也
  • Organizer: 電気関係学会四国支部連合大会
  • Place of Presentation: 徳島大学(徳島市)
  • Year and Date: 2007-09-29
• [Presentation] 抵抗ストリング型D/A変換器の電流テスト容易化設計 (2007)
  • Author(s): 秦 豊
  • Organizer: 電気関係学会四国支部連合大会
  • Place of Presentation: 徳島大学(徳島市)
  • Year and Date: 2007-09-29
• [Presentation] 0.35umCMOSプロセスで試作したICのリード浮きの電流テスト可能性評価 (2007)
  • Author(s): 橋爪 正樹
  • Organizer: 電気関係学会四国支部連合大会
  • Place of Presentation: 徳島大学(徳島市)
  • Year and Date: 2007-09-29
• [Presentation] 交流電界印加時の電流テストによる試作IC内断線の検査 (2007)
  • Author(s): 東條 充
  • Organizer: 電気関係学会四国支部連合大会
  • Place of Presentation: 徳島大学(徳島市)
  • Year and Date: 2007-09-29
• [Presentation] 論理IC実装時に発生する抵抗を伴うリード浮きに対する電流テスト能力評価 (2007)
  • Author(s): 小野安季良, 一宮正博, 四柳浩之, 橋爪正樹, 月本功, 高木正夫
  • Organizer: マイクロエレクトロニクスシンポジウム
  • Place of Presentation: 甲南大学
  • Year and Date: 2007-09-14
• [Presentation] 論理IC実装時に発生する抵抗を伴うリード浮きに対する電流テスト能力評価 (2007)
  • Author(s): 小野 安季良
  • Organizer: マイクロエレクトロニクスシンポジウム
  • Place of Presentation: 甲南大学(神戸市)
  • Year and Date: 2007-09-14
• [Presentation] CMOSQFP ICのリード浮きの電気的検査法 (2007)
  • Author(s): 橋爪正樹, 一宮正博, 四柳浩之
  • Organizer: 第38回国際電子回路産業展
  • Place of Presentation: 東京
  • Year and Date: 2007-05-31
• [Presentation] 交流電界印加による電流テスト用検査装置の試作 (2006)
  • Author(s): 東條充, 一宮正博, 四柳浩之, 橋爪正樹
  • Organizer: 電気関係学会四国支部連合大会
  • Place of Presentation: 愛媛大学
  • Year and Date: 2006-09-26
• [Patent(Industrial Property Rights)] 電子回路の配線故障検査法とその検査容易化回路 (2006)
  • Inventor(s): 橋爪正樹, 一宮正博, 四柳浩之
  • Industrial Property Rights Holder: 青野敏博
  • Industrial Property Number: 2006-309430
  • Filing Date: 2006-11-15
• [Patent(Industrial Property Rights)] 論理回路の断線故障の検査装置 (2006)
  • Inventor(s): 橋爪正樹, 一宮正博
  • Industrial Property Rights Holder: 青野敏博
  • Industrial Property Number: 2006-114044
  • Filing Date: 2006-04-18