• Search Research Projects
  • Search Researchers
  • How to Use
  1. Back to previous page

Preventive safety for VLSIs Based on Adaptive Test during Field Operation

Research Project

Project/Area Number 18KT0014
Research Category

Grant-in-Aid for Scientific Research (B)

Allocation TypeMulti-year Fund
Section特設分野
Research Field Intensification of Artifact Systems
Research InstitutionKyushu Institute of Technology

Principal Investigator

梶原 誠司  九州工業大学, 大学院情報工学研究院, 教授 (80252592)

Co-Investigator(Kenkyū-buntansha) 大竹 哲史  大分大学, 理工学部, 教授 (20314528)
三宅 庸資  九州工業大学, 大学院情報工学研究院, 研究職員 (60793403)
Project Period (FY) 2018-07-18 – 2023-03-31
Project Status Granted (Fiscal Year 2021)
Budget Amount *help
¥18,460,000 (Direct Cost: ¥14,200,000、Indirect Cost: ¥4,260,000)
Fiscal Year 2020: ¥5,980,000 (Direct Cost: ¥4,600,000、Indirect Cost: ¥1,380,000)
Fiscal Year 2019: ¥6,240,000 (Direct Cost: ¥4,800,000、Indirect Cost: ¥1,440,000)
Fiscal Year 2018: ¥6,240,000 (Direct Cost: ¥4,800,000、Indirect Cost: ¥1,440,000)
Keywordsフィールド高信頼化 / VLSIテスト / データマイニング / 組込み自己テスト / 予防安全 / 組み込み自己テスト / VLSI
Outline of Annual Research Achievements

LSI の微細化技術の発展とともに LSI の劣化に起因する遅延増加及びシステム障害が懸念されている.これまでの研究で,フィールドで回路遅延を測定し,その結果に基づいた劣化の把握と遅延増加の予測モデル生成手法を開発してきた.一方で,故障を未然に防ぐには,誤動作を生じる時期の予測に基づき事前に警告することが望まれる.本研究では,遅延予測モデルとフィールドでの実際の回路遅延の差が生じる要因を考察し,その要因を考慮した回路寿命や故障発生の警告タイミングを決定する手法を提案する.また,劣化加速試験により得られた回路遅延の測定値を用いて提案手法の検証を行う.
本研究において,事前の回路シミュレーションやオンチップ遅延測定によって得られた回路遅延の実測値から,機械学習により生成する将来の回路遅延の予測モデルを用いる.この遅延予測モデルで計算される遅延値は,フィールドでの実際の回路遅延値から誤差がある.提案手法では,その誤差要因を(1) 予測手法の精度,(2) 環境変動による影響 (3) 使用データの誤差の3要因に分けて,それぞれ解析する.提案手法の検証のために,試作チップ2 枚分の劣化加速試験により得られた遅延測定の測定値を用いて,警告を行うタイミングを算出した.劣化加速時間は 168h,ストレス条件は2.4V(標準 1.2V),85℃(標準 60℃),ユーザーの猶予期間は 30日とした.その結果,警告タイミングは稼働から11686日後と算出され,環境変動による影響全体のマージンの約98%と大部分を占め, 使用データの誤差が2%程度であることが判明した.

Current Status of Research Progress
Current Status of Research Progress

3: Progress in research has been slightly delayed.

Reason

これまでに、テスト履歴データの作成方法の確立、および、テスト履歴データ取得・活用方法の確立は終了し、九州工業大学で設計開発したチップの試作も終えて、劣化加速試験を含む各種データを取得すると同時に、テスト履歴解析に基づく劣化予測やアダプティブテスト履歴作成の開発を行った。劣化予測からシステムの予防安全につながる警告タイミングの算出手法も開発し、当初の開発目的を達しつつある。共同研究者の大分大学では、新型コロナウィルス感染症対策のための研究に遅れを十分に挽回できていない他、査読付き論文による学会発表にやや遅れがでている。

Strategy for Future Research Activity

これまでに開発した手法をさらに高精度化するよう改良していくことに加え、それらの成果をまとめて査読付き論文に投稿するなど、学会発表を積極的に推進することを計画している。

Report

(4 results)
  • 2021 Research-status Report
  • 2020 Research-status Report
  • 2019 Research-status Report
  • 2018 Research-status Report
  • Research Products

    (29 results)

All 2022 2021 2020 2019 2018 Other

All Int'l Joint Research (1 results) Journal Article (10 results) (of which Int'l Joint Research: 5 results,  Peer Reviewed: 10 results) Presentation (16 results) (of which Int'l Joint Research: 2 results) Book (2 results)

  • [Int'l Joint Research] National Taiwan Univ. of Sci. and Tech.(その他の国・地域)

    • Related Report
      2020 Research-status Report
  • [Journal Article] High Precision PLL Delay Matrix with Overclocking and Double Data Rate for Accurate FPGA Time-to-Digital Converter2020

    • Author(s)
      Poki Chen, Jian-Ting Lan, Ray-Ting Wang, Nguyen My Qui, Yousuke Miyake and Seiji Kajihara
    • Journal Title

      IEEE Transactions on Very Large Scale Integration Systems

      Volume: Volume: 28, Issue: 4 Issue: 4 Pages: 904-913

    • DOI

      10.1109/tvlsi.2019.2962606

    • Related Report
      2020 Research-status Report
    • Peer Reviewed / Int'l Joint Research
  • [Journal Article] On-Chip Delay Measurement for Degradation Detection And Its Evaluation under Accelerated Life Test2020

    • Author(s)
      Yousuke Miyake, Takaaki Kato, Seiji KAJIHARA, Masao ASO, Haruji FUTAMI, Satoshi MATSUNAGA, Yukiya MIURA,
    • Journal Title

      IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design, On-line symposium

      Volume: - Pages: 1-6

    • DOI

      10.1109/iolts50870.2020.9159717

    • NAID

      120007006773

    • Related Report
      2020 Research-status Report
    • Peer Reviewed / Int'l Joint Research
  • [Journal Article] Path Delay Measurement with Correction for Temperature and Voltage Variations2020

    • Author(s)
      Yousuke Miyake,Takaaki Kato, Seiji KAJIHARA
    • Journal Title

      IEEE International Test Conference in Asia

      Volume: - Pages: 112-117

    • DOI

      10.1109/itc-asia51099.2020.00031

    • NAID

      120007006757

    • Related Report
      2020 Research-status Report
    • Peer Reviewed
  • [Journal Article] On Evaluation for Aging-Tolerant Ring Oscillators with Accelerated Life Test And Its Application to A Digital Sensor2020

    • Author(s)
      Masayuki Gondo, Yousuke Miyake, Takaaki Kato, Seiji Kajihara
    • Journal Title

      Proc. IEEE Asian Test Symposium

      Volume: - Pages: 1-6

    • DOI

      10.1109/ats49688.2020.9301588

    • NAID

      120007006769

    • Related Report
      2020 Research-status Report
    • Peer Reviewed / Int'l Joint Research
  • [Journal Article] A Selection Method of Ring Oscillators for An On-Chip Digital Temperature And Voltage Sensor2019

    • Author(s)
      Miyake Yousuke、Sato Yasuo、Kajihara Seiji
    • Journal Title

      IEEE International Test Conference in Asia

      Volume: - Pages: 13-18

    • DOI

      10.1109/itc-asia.2019.00016

    • NAID

      120006777000

    • Related Report
      2019 Research-status Report
    • Peer Reviewed
  • [Journal Article] On-Chip Test Clock Validation Using A Time-to-Digital Converter in FPGAs2019

    • Author(s)
      Yousuke Miyake, Seiji Kajihara, Poki Chen
    • Journal Title

      IEEE International Test Conference in Asia

      Volume: - Pages: 57-162

    • DOI

      10.1109/itc-asia.2019.00040

    • NAID

      120006777001

    • Related Report
      2019 Research-status Report
    • Peer Reviewed / Int'l Joint Research
  • [Journal Article] On-Chip Delay Measurement for In-Field Test of FPGAs2019

    • Author(s)
      Yousuke Miyake, Yasuo Sato, Seiji Kajihara
    • Journal Title

      IEEE Pacific Rim International Symposium on Dependable Computing

      Volume: - Pages: 130-137

    • DOI

      10.1109/itc-asia.2019.00026

    • NAID

      120007006775

    • Related Report
      2019 Research-status Report
    • Peer Reviewed
  • [Journal Article] Good die prediction modelling from limited test items2018

    • Author(s)
      98.Takeru Nishimi, Yasuo Sato, Seiji kajihara, Yoshiyuki Nakamura
    • Journal Title

      Proc. IEEE International Test Conference in Asia.

      Volume: - Pages: 115-120

    • DOI

      10.1109/itc-asia.2018.00030

    • Related Report
      2018 Research-status Report
    • Peer Reviewed
  • [Journal Article] On Flip-Flop Selection for Multi-Cycle Scan Test with Partial Observation in Logic BIST2018

    • Author(s)
      100.Shigeyuki Oshima, Takaaki Kato, Senling Wang, Yasuo Sato, Seiji Kajihara
    • Journal Title

      Proc. IEEE Asian Test Symposium

      Volume: - Pages: 30-35

    • DOI

      10.1109/ats.2018.00017

    • NAID

      120006776996

    • Related Report
      2018 Research-status Report
    • Peer Reviewed
  • [Journal Article] Clock-Skew-Aware Scan Chain Grouping for Mitigating Shift Timing Failures in Low-Power Scan Testing2018

    • Author(s)
      99.Yucong Zhang, Xiaoqing Wen, Stefan Holst, Kohei Miyase, Seiji Kajihara, Hans-Joachim Wunderlich, Jun Qian
    • Journal Title

      Proc. IEEE Asian Test Symposium

      Volume: - Pages: 149-154

    • DOI

      10.1109/ats.2018.00037

    • Related Report
      2018 Research-status Report
    • Peer Reviewed / Int'l Joint Research
  • [Presentation] オンチップ遅延測定における製造バラツキを考慮した温度電圧影響の補正手法2022

    • Author(s)
      加藤隆明, 三宅庸資, 梶原誠司
    • Organizer
      電子情報通信学会DC研究会
    • Related Report
      2021 Research-status Report
  • [Presentation] 信号値遷移確率を用いた高消費電力エリア特定技術の計算処理評価に関する研究2022

    • Author(s)
      星野 龍, 宇都宮大喜, 宮瀬紘平, 温 暁青, 梶原誠司
    • Organizer
      電子情報通信学会DC研究会
    • Related Report
      2021 Research-status Report
  • [Presentation] Evaluation of Power Consumption with Logic Simulation and Placement Information for At-Speed Testing2021

    • Author(s)
      Taiki Utsunomiya, Kohei Miyase, Ryu Hoshino, Shyue-Kung Lu, Xiaoqing Wen, Seiji Kajihara
    • Organizer
      IEEE Workshop on RTL and High Level Testing
    • Related Report
      2021 Research-status Report
    • Int'l Joint Research
  • [Presentation] メモリのサイズおよび形状に起因するロジック部の高消費電力エリア特定に関する研究2021

    • Author(s)
      高藤大輝, 星野 龍, 宮瀬紘平, 温 暁青, 梶原誠司
    • Organizer
      電子情報通信学会DC研究会
    • Related Report
      2020 Research-status Report
  • [Presentation] 勾配降下法を用いた回路遅延の劣化予測について2020

    • Author(s)
      森誠一郎, 権藤昌之, 三宅庸資, 加藤隆明, 梶原誠司
    • Organizer
      電子情報通信学会DC研究会
    • Related Report
      2020 Research-status Report
  • [Presentation] Innovative Test Practices in Asia2020

    • Author(s)
      T. Iwasaki, M. Aso, H. Futami, S. Matsunaga, Y. Miyake, T. Kato, S. Kajihara, Y. Miura, S. Lai, G. Hung, H.H. Chen, H. Kobayashi, K. Hatayama
    • Organizer
      IEEE VLSI Test Symposium
    • Related Report
      2020 Research-status Report
    • Int'l Joint Research
  • [Presentation] LSIの領域毎の信号値遷移確率に基づく電力評価に関する研究2020

    • Author(s)
      大庭 涼, 星野 竜, 宮瀬紘平, 温 暁青, 梶原誠司
    • Organizer
      電子情報通信学会DC研究会
    • Related Report
      2020 Research-status Report
  • [Presentation] 機械学習を用いたデジタル温度電圧センサの精度向上手法の検討2020

    • Author(s)
      権藤昌之, 三宅庸資, 梶原誠司
    • Organizer
      電子情報通信学会ディペンダブルコンピューティング研究会
    • Related Report
      2019 Research-status Report
  • [Presentation] オンチップ遅延測定における温度電圧影響の補正手法について2020

    • Author(s)
      加藤 隆明, 三宅 庸資, 梶原 誠司
    • Organizer
      第82回FTC研究会
    • Related Report
      2019 Research-status Report
  • [Presentation] 長期信頼性試験におけるオンチップ遅延測定による劣化観測2019

    • Author(s)
      三宅庸資, 加藤隆明, 梶原誠司, 麻生正雄, 二見治司, 松永恵士, 三浦幸也
    • Organizer
      電子情報通信学会ディペンダブルコンピューティング研究会
    • Related Report
      2019 Research-status Report
  • [Presentation] LSIのホットスポット分布の解析に関する研究2019

    • Author(s)
      河野雄大, 宮瀬紘平, 呂 學坤, 温 暁青, 梶原誠司
    • Organizer
      電子情報通信学会DC研究会
    • Related Report
      2018 Research-status Report
  • [Presentation] 期待署名自己生成に基づく組込み自己診断機構2019

    • Author(s)
      平本悠翔郎, 大竹哲史, 高橋 寛
    • Organizer
      電子情報通信学会DC研究会
    • Related Report
      2018 Research-status Report
  • [Presentation] FPGAにおける自己補正可能なオンチップデジタル温度センサ2018

    • Author(s)
      三宅庸資, 梶原誠司
    • Organizer
      第17回情報科学技術フォーラム講演論文集(FIT2018)
    • Related Report
      2018 Research-status Report
  • [Presentation] FPGAにおける周期的なフィールドテストのためのオンチップ遅延測定2018

    • Author(s)
      三宅庸資, 佐藤康夫, 梶原誠司
    • Organizer
      電子情報通信学会DC研究会
    • Related Report
      2018 Research-status Report
  • [Presentation] 論理BISTのテスト電力制御手法とTEG評価について2018

    • Author(s)
      加藤隆明, 王 森レイ, 佐藤康夫, 梶原誠司
    • Organizer
      電子情報通信学会DC研究会
    • Related Report
      2018 Research-status Report
  • [Presentation] FPGAにおける自己補正可能なオンチップデジタル温度センサ2018

    • Author(s)
      三宅庸資, 梶原誠司
    • Organizer
      第17回情報科学技術フォーラム
    • Related Report
      2018 Research-status Report
  • [Book] はかる×わかる半導体 応用編2019

    • Author(s)
      浅田邦博(監修)
    • Total Pages
      334
    • Publisher
      日経BPコンサルティング
    • ISBN
      4864431302
    • Related Report
      2019 Research-status Report
  • [Book] VLSI Design and Test for Systems Dependability2019

    • Author(s)
      Shojiro Asai(editor) ,et. al.
    • Total Pages
      800
    • Publisher
      Springer Japan
    • ISBN
      9784431565925
    • Related Report
      2018 Research-status Report

URL: 

Published: 2018-07-20   Modified: 2022-12-28  

Information User Guide FAQ News Terms of Use Attribution of KAKENHI

Powered by NII kakenhi