Direct detection of the distribution and local structure of solvated ions at ionic solution surface by total reflection XAFS
| Project/Area Number |
19550080
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| Research Category |
Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
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| Allocation Type | Single-year Grants |
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| Section | 一般 |
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| Research Field |
Analytical chemistry
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| Research Institution | Tokyo Institute of Technology |
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Principal Investigator |
HARADA Makoto Tokyo Institute of Technology, 大学院・理工学研究科, 助教 (60313326)
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| Co-Investigator(Kenkyū-buntansha) |
OKADA Tetsuo 東京工業大学, 大学院・理工学研究科, 教授 (20183030)
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| Project Period (FY) |
2007 – 2008
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| Project Status |
Completed (Fiscal Year 2008)
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| Budget Amount *help |
¥4,420,000 (Direct Cost: ¥3,400,000、Indirect Cost: ¥1,020,000)
Fiscal Year 2008: ¥1,430,000 (Direct Cost: ¥1,100,000、Indirect Cost: ¥330,000)
Fiscal Year 2007: ¥2,990,000 (Direct Cost: ¥2,300,000、Indirect Cost: ¥690,000)
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| Keywords | XAFS / 固液界面 / 気液界面 / 電位規制表面 / 膜吸着 / 熱レンズ |
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| Research Abstract |
水溶液中で起こる物質の変化や電極に対する吸着を、電極電位を規制しながら、XAFS法、および熱レンズ法で吸着量や吸着化学種、およびその吸着構造変化等を観察することを試みた。
導電性のある透明な膜であるITOを蒸着したガラス板とダブプリズムを用いて、ITO電極に印加する電位によって塩化金酸イオンが金コロイドに還元される様子を熱レンズとサイクリックボルタモグラム両面から観測した。また、陽イオン性界面活性膜を用いて溶存イオンの表面膜への吸着挙動を全反射XAFS法によって見積もった。
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Report
(3 results)
Research Products
(10 results)
