Direct detection of the distribution and local structure of solvated ions at ionic solution surface by total reflection XAFS

• Project/Area Number: 19550080
• Research Category: Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
• Allocation Type: Single-year Grants
• Section: 一般
• Research Field: Analytical chemistry
• Research Institution: Tokyo Institute of Technology
• Principal Investigator: HARADA Makoto Tokyo Institute of Technology, 大学院・理工学研究科, 助教 (60313326)
• Co-Investigator(Kenkyū-buntansha): OKADA Tetsuo 東京工業大学, 大学院・理工学研究科, 教授 (20183030)
• Project Period (FY): 2007 – 2008
• Project Status: Completed (Fiscal Year 2008)
• Budget Amount: ¥4,420,000 (Direct Cost: ¥3,400,000、Indirect Cost: ¥1,020,000); Fiscal Year 2008: ¥1,430,000 (Direct Cost: ¥1,100,000、Indirect Cost: ¥330,000); Fiscal Year 2007: ¥2,990,000 (Direct Cost: ¥2,300,000、Indirect Cost: ¥690,000)
• Keywords: XAFS / 固液界面 / 気液界面 / 電位規制表面 / 膜吸着 / 熱レンズ

Research Abstract

水溶液中で起こる物質の変化や電極に対する吸着を、電極電位を規制しながら、XAFS法、および熱レンズ法で吸着量や吸着化学種、およびその吸着構造変化等を観察することを試みた。
導電性のある透明な膜であるITOを蒸着したガラス板とダブプリズムを用いて、ITO電極に印加する電位によって塩化金酸イオンが金コロイドに還元される様子を熱レンズとサイクリックボルタモグラム両面から観測した。また、陽イオン性界面活性膜を用いて溶存イオンの表面膜への吸着挙動を全反射XAFS法によって見積もった。

Research Products

• [Journal Article] Evacuation of Counteranions from Langmuir Monolayers of Double tailed Quaternary Ammonium Ions into Subphase at High Surface Pressures as Studied by Total Reflection X ray Absorption Spectrometry (2009)
  • Author(s): Harada, Makoto ; Okada, Tetsuo
  • Journal Title: J. Phys. Chem. C (印刷中)
• [Presentation] 熱レンズXAFSの開発 (2009)
  • Author(s): 佐藤春彦、原田誠、岡田哲男
  • Organizer: 日本化学会
  • Place of Presentation: 日本大学理工学部船橋キャンパス
  • Year and Date: 2009-03-29
• [Presentation] 全反射蛍光XAFS法による液液界面イオン吸着構造へのアプローチ (2008)
  • Author(s): 原田誠、岡田哲男
  • Organizer: 分析化学会第56年会
  • Place of Presentation: 徳島大学常三島キャンパス
  • Year and Date: 2008-09-21
• [Presentation] 全反射全電子収量XAFS法による表面膜への吸着挙動の観察 (2008)
  • Author(s): 原田誠、岡田哲男
  • Organizer: 分析化学会第57年会
  • Place of Presentation: 福岡大学七隈キャンパス
  • Year and Date: 2008-09-11
• [Presentation] 光熱変換分光法による界面状態の観測 (2008)
  • Author(s): 佐藤春彦、原田誠、岡田哲男
  • Organizer: 分析化学会第57年会
  • Place of Presentation: 福岡大学七隈キャンパス
  • Year and Date: 2008-09-11
• [Presentation] 全反射全電子収量XAFS法による表面膜への吸着挙動の観察 (2008)
  • Author(s): 原田 誠
  • Organizer: 分析化学会第5 7年会
  • Place of Presentation: 福岡大学七隈キャンパス
  • Year and Date: 2008-09-11
• [Presentation] 表面膜に対する溶存イオンの吸着挙動 (2008)
  • Author(s): 原田誠、岡田哲男
  • Organizer: 第61回コロイドおよび界面化学討論会
  • Place of Presentation: 九州大学六本松キャンパス
  • Year and Date: 2008-09-09
• [Presentation] 表面膜に対する溶存イオンの吸着挙動 (2008)
  • Author(s): 原田 誠
  • Organizer: 第61回コロイドおよび界面化学討論会
  • Place of Presentation: 九州大学
  • Year and Date: 2008-09-09
• [Presentation] 全反射蛍光XAFS法による液液界面イオン吸着構造へのアプローチ (2007)
  • Author(s): 原田誠
  • Organizer: 分析化学会第56回年会
  • Place of Presentation: 徳島県徳島大学
  • Year and Date: 2007-09-21
• [Remarks]
  • URL: http://www.chemistry.titech.ac.jp/~okada