Development of in situ analyzer of field emitters and analysis of variation in field emission properties
| Project/Area Number |
19560024
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| Research Category |
Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
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| Allocation Type | Single-year Grants |
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| Section | 一般 |
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| Research Field |
Thin film/Surface and interfacial physical properties
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| Research Institution | Kyoto University |
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Principal Investigator |
GOTOH Yasuhito Kyoto University, 大学院・工学研究科, 准教授 (00225666)
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| Project Period (FY) |
2007 – 2008
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| Project Status |
Completed (Fiscal Year 2008)
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| Budget Amount *help |
¥4,550,000 (Direct Cost: ¥3,500,000、Indirect Cost: ¥1,050,000)
Fiscal Year 2008: ¥1,690,000 (Direct Cost: ¥1,300,000、Indirect Cost: ¥390,000)
Fiscal Year 2007: ¥2,860,000 (Direct Cost: ¥2,200,000、Indirect Cost: ¥660,000)
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| Keywords | 電界放出 / その場解析 / 特性揺らぎ / 電界放射顕微鏡像 / 切片傾きチャート / ファウラー-ノルドハイムプロット / 電流変動 / 同時取り込み / FEM像 / SKチャート / FNプロット / その場特性解析 |
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| Research Abstract |
電界放出素子の特性ゆらぎの要因解析のために、電子放出その場特性評価装置の開発を行った.高速A/D変換ボードとCCDカメラをPCに接続し、実験装置とのインターフェースの開発を行った.電流と電圧の値をアナログ回路で一旦解析しやすい数値に変換する方法と直接PCに記録してソフトで解析する方法を検討し、それぞれの長所、短所を明らかにした.また、CCDカメラに記録した電界放射顕微鏡像と電流変動を対応付づけた.
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Report
(3 results)
Research Products
(8 results)
