| Project/Area Number |
19560025
|
|---|
| Research Category |
Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
|
| Allocation Type | Single-year Grants |
|---|
| Section | 一般 |
|---|
| Research Field |
Thin film/Surface and interfacial physical properties
|
|---|
| Research Institution | Yokohama City University |
|---|
Principal Investigator |
横山 崇 Yokohama City University, 国際総合科学研究科, 准教授 (80343862)
|
|---|
| Project Period (FY) |
2007 – 2008
|
| Project Status |
Completed (Fiscal Year 2008)
|
| Budget Amount *help |
¥4,550,000 (Direct Cost: ¥3,500,000、Indirect Cost: ¥1,050,000)
Fiscal Year 2008: ¥1,690,000 (Direct Cost: ¥1,300,000、Indirect Cost: ¥390,000)
Fiscal Year 2007: ¥2,860,000 (Direct Cost: ¥2,200,000、Indirect Cost: ¥660,000)
|
|---|
| Keywords | 走査プローブ顕微鏡 / 走査型プローブ顕微鏡 / 分子フォトニクス / 表面・界面 |
|---|
| Research Abstract |
研究は以下の3つのサブテーマに分けて行った.(1)表面上での単一分子計測および分子自己組織化制御, (2)導電性透明薄膜(ITO)でコーティングしたSTM探針を用いたSTM発光測定の高精度化, (3)単一分子レベルのSTM発光を得るための基板作成.(1)については, 様々な分子の基板上での吸着状態や自己組織化状態を明らかにし, 蒸着条件などを変化させることで制御を試みた.(2)については, 発光検出の高効率化を実現し, 分光も検出できるようになった.さらに, (3)の分子発光測定に適した絶縁薄膜基板を実現することで, 微弱ながら単分子からの発光検出に成功した.
|
