| Project/Area Number |
19560843
|
|---|
| Research Category |
Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
|
| Allocation Type | Single-year Grants |
|---|
| Section | 一般 |
|---|
| Research Field |
Nuclear engineering
|
|---|
| Research Institution | Osaka University |
|---|
Principal Investigator |
HONDA Yoshihide Osaka University, 産業科学研究所, 准教授 (40209333)
|
|---|
| Co-Investigator(Kenkyū-buntansha) |
KIMURA Norio 大阪大学, 産業科学研究所, 助教 (80195370)
NISHIJIMA Shigehiro 大阪大学, 工学研究科, 教授 (00156069)
AKIYAMA Yoko 大阪大学, 工学研究科, 助教 (50452470)
|
|---|
| Project Period (FY) |
2007 – 2008
|
| Project Status |
Completed (Fiscal Year 2008)
|
| Budget Amount *help |
¥4,550,000 (Direct Cost: ¥3,500,000、Indirect Cost: ¥1,050,000)
Fiscal Year 2008: ¥910,000 (Direct Cost: ¥700,000、Indirect Cost: ¥210,000)
Fiscal Year 2007: ¥3,640,000 (Direct Cost: ¥2,800,000、Indirect Cost: ¥840,000)
|
|---|
| Keywords | 陽電子 / ポジトロニウム / 電解質膜 / 高分子 / 燃料電池 / 劣化 / Nafion / SPEEK / 角相関 / AMOC |
|---|
| Research Abstract |
陽電子消滅法(PAS)を高分子電解質膜(PEM)の評価法として確立するために、PEMの性能を反映するPAS関連パラメータを見出し、PEM内での陽電子の挙動解明を試みた。炭化水素系PEMのSPEEKをスルホ基密度を変えて作成しスルホ基が陽電子消滅過程に及ぼす影響を調べた。また新たな高精度測定法の開発を行うとともに、テフロン骨格のPEMであるNafion^<TM>に対し2光子消滅γ線同時測定や分子軌道計算等も行い、PEM内での陽電子挙動を調べた
|
