Research Project
Grant-in-Aid for Young Scientists (B)
本研究では、多機能近接場ラマン分光ひずみ評価装置の開発を行った。特に、微小開口プローブと金属チッププローブで近接場の発生条件を検討し、近接場光の発生、表面形状、表面電位と成分分析の同時測定が可能なSNOMヘッドとシステムを確立した。現状、スペクトル強度が弱いためひずみ評価は困難であるが、シリコンでのチップ増強等、レーザー波長を変える事で十分な強度が得られる可能性があり、今後更なる発展が期待できる。
All 2007
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