Development of the accurate TOF-MS with the strong gradient electrical field acceleration

• Project/Area Number: 19860093
• Research Category: Grant-in-Aid for Young Scientists (Start-up)
• Allocation Type: Single-year Grants
• Research Field: Measurement engineering
• Research Institution: National Institute of Advanced Industrial Science and Technology
• Principal Investigator: ZEN Nobuyuki National Institute of Advanced Industrial Science and Technology, 計測フロンティア研究部門, 特別研究員 (20455439)
• Project Period (FY): 2007 – 2008
• Project Status: Completed (Fiscal Year 2008)
• Budget Amount: ¥1,420,000 (Direct Cost: ¥1,330,000、Indirect Cost: ¥90,000); Fiscal Year 2008: ¥390,000 (Direct Cost: ¥300,000、Indirect Cost: ¥90,000); Fiscal Year 2007: ¥1,030,000 (Direct Cost: ¥1,030,000)
• Keywords: 質量分析 / TOF-MS / 高電圧パルス / 静電場シミュレーション / 遅延引き出し法 / 飛行時間型質量分析 / エレクトロスプレー / イオン加速 / 二段加速 / 電場勾配 / ESI / プロテオミクス / 高速パルス発生器 / PSD / 超伝導検出器 / STJ / 計測工学

Research Abstract

本研究において提案された電場勾配型イオン加速法は、飛行時間型質量分析装置のイオン加速部において、イオンの加速方向とは逆勾配の高電場を生成し、イオンの初期エネルギーおよび初期位置を強制的に揃えてやり、あるタイミングで高電圧パルスを発生させてイオンを加速することにより、高い質量分析精度を目指したものである。逆勾配の高電場をパルス的に発生させておき、加速の高電圧が印加された後、パルス的に減衰させる必要のあることが分かった。