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Development of atomic force microscope combined with synchrotron radiation X-ray for measurement of elemental species distribution on surfaces at the nanoscale

Research Project

Project/Area Number 19K05266
Research Category

Grant-in-Aid for Scientific Research (C)

Allocation TypeMulti-year Fund
Section一般
Review Section Basic Section 29020:Thin film/surface and interfacial physical properties-related
Research InstitutionNagoya University

Principal Investigator

鈴木 秀士  名古屋大学, 工学研究科, 准教授 (30322853)

Project Period (FY) 2019-04-01 – 2021-03-31
Project Status Discontinued (Fiscal Year 2020)
Budget Amount *help
¥4,420,000 (Direct Cost: ¥3,400,000、Indirect Cost: ¥1,020,000)
Fiscal Year 2021: ¥1,040,000 (Direct Cost: ¥800,000、Indirect Cost: ¥240,000)
Fiscal Year 2020: ¥1,300,000 (Direct Cost: ¥1,000,000、Indirect Cost: ¥300,000)
Fiscal Year 2019: ¥2,080,000 (Direct Cost: ¥1,600,000、Indirect Cost: ¥480,000)
Keywords非接触原子間力顕微鏡 / 放射光X線 / 元素分析 / ナノスケール / 表面・界面 / 半導体 / ゲルマニウム / 空間分解能
Outline of Research at the Start

ムーアの法則を”超える”技術として近年、原子や分子を素子とした論理回路の実証実験が始まっている。これに合わせ、構造・組成・機能を原子~ナノスケールで統合的に理解するための環境整備が急務である。本研究では、表面ナノ構造や物性を分析できる非接触原子間力顕微鏡(NC-AFM)と化学分析が可能な放射光X線(SR X-ray)を組み合わせ、ナノスケールの構造・組成・機能を総合的に分析する「X線支援非接触原子間力顕微鏡(XANAM:ザナム)」の開発を行う。本申請期間では元素別データの拡充と現象・原理の理解を進めるとともに、空間分解能の向上を図り、「元素検知テスター」としてのポテンシャルを証明する。

Outline of Annual Research Achievements

今後の表面/界面の物性研究では、ナノ構造を構成する原子の元素情報や化学状態の理解がますます重要になる。そこで我々は、非接触原子間力顕微鏡(NC-AFM)の空間分解能で表面化学分析を実現することを目指し、NC-AFMと放射光X線を組み合わせた「X線支援原子間力顕微鏡(XANAM)」を開発してきた。NC-AFMの研究では、探針-試料間に働く原子間力には、van der Waals力と静電気力の他、共有結合力も含まれる事が既に知られている。我々は、共有結合力の電子密度を変化できればNC-AFMの力信号の変化が観測でき、これを試料元素固有のX線吸収端エネルギーのX線励起で行えば、試料表面の元素マッピングできると考えた。しかしこれまでは、「X線でNC-AFMの原子間力が変化し試料表面の元素マッピングが可能」とは示せたが、空間分解能の到達限界の検証には至れなかった。そこで本研究では、Ge半導体表面でXANAMの空間分解能の到達限界を検討した。
実験は放射光施設KEK-PF(茨城県つくば市)で行った。試料はSi基板上に作成したGe量子ドット(Ge-QD)(名古屋大学大学院工学研究科 宮崎研究室より提供)を用いた。前年度の結果から、Ge表面でもGe-K吸収端の11103 eV付近で力信号の応答があるとわかっている。そこでフォースカーブの連続測定による力の3次元データΔf(x, y, z)をX線エネルギー(E)掃引しながら行い、Ge-QDに関する力信号の4次元データΔf(x, y, z, E)を取得した。これより、少なくとも数ナノメートル程度の空間分解能でX線誘起の力信号応答が計測可能とわかった。同測定では、Ge-QDをSiで被覆すると応答が得られないことも確認できており、元素マッピングに共有結合力が介在していることが強く支持される。より精密な測定ならば原子分解能も十分到達可能と期待された。

Report

(2 results)
  • 2020 Annual Research Report
  • 2019 Research-status Report
  • Research Products

    (15 results)

All 2021 2020 2019

All Journal Article (3 results) Presentation (12 results) (of which Int'l Joint Research: 3 results)

  • [Journal Article] XANAM measurements on Ge surfaces for surface chemical imaging2019

    • Author(s)
      S. Suzuki, S. Mukai, W.J. Chun, M. Nomura, S. Fujimori, M. Ikeda, K. Makihara, S. Miyazaki, K. Asakura
    • Journal Title

      Proceedings of 12th International Symposium on Atomic Level Characterizations for New Materials and Devices '19 (ALC'19)

      Volume: - Pages: 87-89

    • Related Report
      2019 Research-status Report
  • [Journal Article] Application of surface chemical imaging by XANAM to Ge surfaces2019

    • Author(s)
      S. Suzuki, S. Mukai, W.J. Chun, M. Nomura, S. Fujimori, M. Ikeda, K. Makihara, S. Miyazaki, K. Asakura
    • Journal Title

      Proceedings of 8th International Symposium on Control of Semiconductor Interfaces (ISCSI-VIII)

      Volume: - Pages: 111-112

    • Related Report
      2019 Research-status Report
  • [Journal Article] Analysis of Incident X-ray Energy Influence on the Tip-Surface Force on the Ge Surface by XANAM2019

    • Author(s)
      S. Suzuki, S. Mukai, W.-J. Chun, M. Nomura, and K. Asakura
    • Journal Title

      Photon Factory Activity Report 2018

      Volume: 36B Pages: 248-248

    • Related Report
      2019 Research-status Report
  • [Presentation] X線支援原子間力顕微鏡XANAMによるX線誘起の力変化を利用したSi基板上のGe量子ドットのX線元素分析2021

    • Author(s)
      鈴木秀士, 向井慎吾, 田旺帝, 野村昌治, 藤森 俊太郎, 池田 弥央, 牧原 克典, 宮﨑 誠一, 朝倉清高
    • Organizer
      日本化学会 第101春季年会
    • Related Report
      2020 Annual Research Report
  • [Presentation] XANAMによるSi-Ge量子ドットにおけるX線誘起力変化の調査2021

    • Author(s)
      鈴木秀士, 向井慎吾, 田旺帝, 野村昌治, 藤森 俊太郎, 池田 弥央, 牧原 克典, 宮﨑 誠一, 朝倉清高
    • Organizer
      第68回 応用物理学会 春季学術講演会
    • Related Report
      2020 Annual Research Report
  • [Presentation] XANAMにより測定したGe量子ドット像のX線エネルギー依存性2021

    • Author(s)
      鈴木秀士, 向井慎吾, 田旺帝, 野村昌治, 藤森 俊太郎, 池田 弥央, 牧原 克典, 宮﨑 誠一, 朝倉清高
    • Organizer
      第68回 応用物理学会 春季学術講演会
    • Related Report
      2020 Annual Research Report
  • [Presentation] Evaluation of Spatial Resolution of XANAM using Ge Quantum Dots on a Si Substrate2020

    • Author(s)
      S. Suzuki, S. Mukai, W.-J. Chun, M. Nomura, S. Fujimori, M. Ikeda, K. Makihara, S. Miyazaki, K. Asakura
    • Organizer
      28th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy (ICSPM28)
    • Related Report
      2020 Annual Research Report
    • Int'l Joint Research
  • [Presentation] X線支援非接触原子間力顕微鏡(XANAM)による半導体表面のナノスケール元素分析2020

    • Author(s)
      鈴木秀士, 向井慎吾, 田旺帝, 野村昌治, 藤森 俊太郎, 池田 弥央, 牧原 克典, 宮﨑 誠一, 朝倉清高
    • Organizer
      日本物理学会 2020年秋季大会
    • Related Report
      2020 Annual Research Report
  • [Presentation] XANAMによるGe量子ドット像の1次元 元素マッピング2020

    • Author(s)
      鈴木秀士, 向井慎吾, 田旺帝, 野村昌治, 藤森 俊太郎, 池田 弥央, 牧原 克典, 宮﨑 誠一, 朝倉清高
    • Organizer
      第81回応用物理学会秋季学術講演会
    • Related Report
      2020 Annual Research Report
  • [Presentation] NC-AFMとの融合によるGe表面の局所X線元素分析2020

    • Author(s)
      鈴木秀士, 向井慎吾, 田旺帝, 野村昌治, 藤. 俊太郎, 池. 弥央, 牧. 克典, 宮. 誠一, 朝倉清高
    • Organizer
      第33回日本放射光学会年会・放射光科学合同シンポジウム
    • Related Report
      2019 Research-status Report
  • [Presentation] Ge 量子ドット像のXANAM によるX 線エネルギー依存性測定2020

    • Author(s)
      鈴木秀士, 向井慎吾, 田旺帝, 野村昌治, 藤. 俊太郎, 池. 弥央, 牧. 克典, 宮. 誠一, 朝倉清高
    • Organizer
      第67回応用物理学会春季学術講演会
    • Related Report
      2019 Research-status Report
  • [Presentation] XANAM measurements on Ge surfaces for surface chemical imaging2019

    • Author(s)
      Suzuki, S., S. Mukai, W.-J. Chun, M. Nomura, S. Fujimori, M. Ikeda, K. Makihara, S. Miyazaki and K. Asakura
    • Organizer
      12th International Symposium on Atomic Level Characterizations for New Materials and Devices '19 in conjunction with the 22nd International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS XXII)
    • Related Report
      2019 Research-status Report
    • Int'l Joint Research
  • [Presentation] Application of surface chemical imaging by XANAM to Ge surfaces2019

    • Author(s)
      Suzuki, S., S. Mukai, W.-J. Chun, M. Nomura, S. Fujimori, M. Ikeda, K. Makihara, S. Miyazaki and K. Asakura
    • Organizer
      8th International Symposium on Control of Semiconductor Interfaces (ISCSI-VIII)
    • Related Report
      2019 Research-status Report
    • Int'l Joint Research
  • [Presentation] Ge試料表面構造のXANAM像の取得2019

    • Author(s)
      鈴木秀士, 向井慎吾, 田旺帝, 野村昌治, 藤. 俊太郎, 池. 弥央, 牧. 克典, 宮. 誠一, 朝倉清高
    • Organizer
      第80回応用物理学会秋季学術講演会
    • Related Report
      2019 Research-status Report
  • [Presentation] X線支援非接触原子間力顕微鏡(XANAM)によるGe表面の力イメージング2019

    • Author(s)
      鈴木秀士, 向井慎吾, 田旺帝, 野村昌治, 藤. 俊太郎, 池. 弥央, 牧. 克典, 宮. 誠一, 朝倉清高
    • Organizer
      2019年日本表面真空学会学術講演会
    • Related Report
      2019 Research-status Report

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Published: 2019-04-18   Modified: 2022-12-28  

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