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Low-power design of CMOS sensor circuits utilizing device mismatch

Research Project

Project/Area Number 19K20233
Research Category

Grant-in-Aid for Early-Career Scientists

Allocation TypeMulti-year Fund
Review Section Basic Section 60040:Computer system-related
Research InstitutionKyoto University

Principal Investigator

Mahfuzul Islam  京都大学, 工学研究科, 講師 (80762195)

Project Period (FY) 2019-04-01 – 2022-03-31
Project Status Completed (Fiscal Year 2021)
Budget Amount *help
¥4,290,000 (Direct Cost: ¥3,300,000、Indirect Cost: ¥990,000)
Fiscal Year 2021: ¥1,040,000 (Direct Cost: ¥800,000、Indirect Cost: ¥240,000)
Fiscal Year 2020: ¥1,300,000 (Direct Cost: ¥1,000,000、Indirect Cost: ¥300,000)
Fiscal Year 2019: ¥1,950,000 (Direct Cost: ¥1,500,000、Indirect Cost: ¥450,000)
Keywords集積回路 / 温度センサ / アナログ / ディジタル / モデリング / ばらつき / MOSトランジスタ / 製造ばらつき / アナログーディジタル変換回路 / ADC / フラッシュ型ADC / 順序統計 / 電源電圧依存性 / センサ / 低消費電力 / IoT / CMOS
Outline of Research at the Start

本研究は、微細トランジスタ間に発生する特性ばらつきを積極的に利用した新たな回路設計方法を確立する。提案技術はデバイス間の特性ばらつきをオンチップのセンシング技術及び再構成により最適なデバイス組を動的に接続技術の2つから成り立つものである。提案手法の応用として(1) 基準電圧生成回路、(2) 温度センサ回路、及び(3) アナログーディジタル変換回路の3種類の回路を設計し、実シリコンの評価により最適な設計手法を明らかにする。

Outline of Final Research Achievements

The purpose of this research to discover new circuit techniques that utilize the characteristic variation of MOS transistors. To show that transistor variation can be utilized as a valuable information source, we developed a ultra-low-power temperature sensor and a high-speed analog to digital converter (ADC). We could successfully develop a temperature sensor that does not require any fixed reference voltage for 0.8~1.2V operation. A test chip fabricated in a 65nm process demonstrates temperature sensing within -0.5/+1.4°C error over 0~100°C of temperature range. We then successfully developed and demonstrated a 4-bit flash ADC with 1GHz sampling rate operating under 1mW of power. Our ADC contains several hundreds of small-sized comparators where the on-chip calibration mechanism will select the appropriate comparators based statistical selection method. We then also shown an optimizing method to increase the performance under a fixed power budget.

Academic Significance and Societal Importance of the Research Achievements

トランジスタ特性のばらつきはアナログ回路設計にといて最大の敵として扱われていたが,本研究の成果により特性ばらつきを活用することができるようになった.その結果,微細トランジスタを用いた回路設計が可能となり,アナログ回路にも微細できることは学術的意義が大きい.ばらつきの活用に各々の素子のアナログ特性を測定せず,順序統計により完全ディジタルキャリブレーションが可能であるこを実証した.これは画期的なアイディアでばらつきを活用した新たな回路設計の理論としての展開が期待できる.また,消費電力を大幅に削減できることからあらゆる集積デバイスの長寿命化とエネルギー独立なデバイス実現の可能性をより一層高くした.

Report

(4 results)
  • 2021 Annual Research Report   Final Research Report ( PDF )
  • 2020 Research-status Report
  • 2019 Research-status Report
  • Research Products

    (15 results)

All 2022 2021 2020 2019

All Journal Article (1 results) (of which Peer Reviewed: 1 results,  Open Access: 1 results) Presentation (10 results) (of which Int'l Joint Research: 6 results) Book (2 results) Patent(Industrial Property Rights) (2 results) (of which Overseas: 1 results)

  • [Journal Article] On-chip leakage current variation measurement using external-reference-free current-to-time conversion for densely placed MOSFETs2022

    • Author(s)
      Islam Mahfuzul、Harada Shogo
    • Journal Title

      Japanese Journal of Applied Physics

      Volume: 61 Issue: SC Pages: SC1056-SC1056

    • DOI

      10.35848/1347-4065/ac506a

    • Related Report
      2021 Annual Research Report
    • Peer Reviewed / Open Access
  • [Presentation] Homogeneous ring oscillator with staggered layout for gate-level delay characterization2022

    • Author(s)
      Misaki Udo, Mahfuzul Islam, and Hidetoshi Onodera
    • Organizer
      IEEE International Microelectronic Test Structures (ICMTS)
    • Related Report
      2021 Annual Research Report
    • Int'l Joint Research
  • [Presentation] A process scalable voltage-reference-Free temperature sensor utilizing MOSFET threshold voltage variation2021

    • Author(s)
      Shogo Harada, Mahfuzul Islam, Takashi Hisakado, and Osami Wada
    • Organizer
      IEEE Asian Solid-State Circuits Conference (A-SSCC)
    • Related Report
      2021 Annual Research Report
    • Int'l Joint Research
  • [Presentation] On-chip leakage current variation measurement using reference-free current-to-time conversion2021

    • Author(s)
      Shogo Harada, and Mahfuzul Islam
    • Organizer
      International Conference on Solid State Devices and Materials
    • Related Report
      2021 Annual Research Report
    • Int'l Joint Research
  • [Presentation] CDF Distance Based Statistical Parameter Extraction Using Nonlinear Delay Variation Models2021

    • Author(s)
      Kensuke Murakami, Mahfuzul Islam, and Hidetoshi Onodera
    • Organizer
      27th IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design (IOLTS)
    • Related Report
      2021 Annual Research Report
    • Int'l Joint Research
  • [Presentation] Flash ADC Utilizing Offset Voltage Variation With Order Statistics Based Comparator Selection2021

    • Author(s)
      Takehiro Kitamura, Mahfuzul Islam, Takashi Hisakado, and Osami Wada
    • Organizer
      International Symposium on Quality Electronic Design (ISQED)
    • Related Report
      2020 Research-status Report
    • Int'l Joint Research
  • [Presentation] コンパレータのオンチップ選択機構を有する順序統計に基づいたフラッシュ型ADCの設計2020

    • Author(s)
      北村健浩, イスラム マーフズル, 久門尚史, 和田修己
    • Organizer
      DAシンポジウム
    • Related Report
      2020 Research-status Report
  • [Presentation] しきい値電圧差を利用した時間領域処理による広い電源電圧で動作するCMOS温度センサ2020

    • Author(s)
      原田彰吾, イスラム マーフズル, 久門尚史, 和田修己
    • Organizer
      DAシンポジウム
    • Related Report
      2020 Research-status Report
  • [Presentation] Increased Delay Variability due to Random Telegraph Noise under Dynamic Back-gate Tuning2020

    • Author(s)
      Misaki Udo, Keisuke Murakami, Mahfuzul Islam, Hidetoshi Onodera
    • Organizer
      IEEE 33rd International Conference on Microelectronic Test Structures (ICMTS)
    • Related Report
      2020 Research-status Report
    • Int'l Joint Research
  • [Presentation] オフセット電圧の順序統計量を利用したフラッシュ型ADCの理論検討2020

    • Author(s)
      北村 健浩, イスラム マーフズル, 久門尚史, 和田修己
    • Organizer
      電子情報通信学会総合大会, 2020
    • Related Report
      2019 Research-status Report
  • [Presentation] MOSFETの統計的選択によるレファレンス不要なCMOS温度センサの設計2019

    • Author(s)
      原田彰吾, イスラム マーフズル, 久門尚史, 和田修己
    • Organizer
      電子情報通信学会VLSI設計技術研究会 (VLD) , 愛媛, 2019年11月
    • Related Report
      2019 Research-status Report
  • [Book] Chapter "Random Telegraph Noise Under Switching Operation" in "Noise in Nanoscale Semiconductor Devices"2020

    • Author(s)
      Kazutoshi Kobayashi, Mahfuzul Islam, Takashi Matsumoto, and Ryo Kishida
    • Total Pages
      49
    • Publisher
      Springer
    • ISBN
      9783030375003
    • Related Report
      2020 Research-status Report
  • [Book] Chapter "Monitor Circuits for Cross-Layer Resiliency" in "Dependable Embedded Systems"2020

    • Author(s)
      Mahfuzul Islam, and Hidetoshi Onodera
    • Total Pages
      23
    • Publisher
      Springer
    • ISBN
      9783030520175
    • Related Report
      2020 Research-status Report
  • [Patent(Industrial Property Rights)] アナログデバイスおよびその制御方法、温度センサ、並びにアナログ素子対応付けシステム2020

    • Inventor(s)
      イスラム マーフズル,久門尚史, 和田修己
    • Industrial Property Rights Holder
      イスラム マーフズル,久門尚史, 和田修己
    • Industrial Property Rights Type
      特許
    • Filing Date
      2020
    • Related Report
      2020 Research-status Report
    • Overseas
  • [Patent(Industrial Property Rights)] 集積回路における微細デバイスの特性分布の性質を利用したデバイスの選択技術及びデバイスの適切な選択による回路方式2019

    • Inventor(s)
      イスラム マーフズル,久門尚史, 和田修己
    • Industrial Property Rights Holder
      イスラム マーフズル,久門尚史, 和田修己
    • Industrial Property Rights Type
      特許
    • Industrial Property Number
      2019-200993
    • Filing Date
      2019
    • Related Report
      2019 Research-status Report

URL: 

Published: 2019-04-18   Modified: 2023-01-30  

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