| Project/Area Number |
20760228
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| Research Category |
Grant-in-Aid for Young Scientists (B)
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| Allocation Type | Single-year Grants |
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| Research Field |
Electron device/Electronic equipment
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| Research Institution | Japan Aerospace Exploration Agency |
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Principal Investigator |
KOBAYASHI Daisuke Japan Aerospace Exploration Agency, 宇宙科学研究本部, 助教 (90415894)
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| Project Period (FY) |
2008 – 2009
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| Project Status |
Completed (Fiscal Year 2009)
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| Budget Amount *help |
¥4,290,000 (Direct Cost: ¥3,300,000、Indirect Cost: ¥990,000)
Fiscal Year 2009: ¥1,950,000 (Direct Cost: ¥1,500,000、Indirect Cost: ¥450,000)
Fiscal Year 2008: ¥2,340,000 (Direct Cost: ¥1,800,000、Indirect Cost: ¥540,000)
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| Keywords | ソフトエラー / 電子デバイス・機器 / 半導体物性 / 放射線・X線・粒子線 / 宇宙線 / モデリング / 放射線,X線,粒子線 / 解析式 / ディペンダブルコンピューティング / シングルイベント効果 / シングルイベントトランジェント / SET / 放射線 / 信頼性 |
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| Research Abstract |
放射線が論理回路に当たるとパルス状のノイズが発生し回路が誤動作してしまう.このノイズパルスをSETパルスと呼び,対策のためにその波形を明らかにする必要がある.そのための手法を提案し,半導体製造技術の一つである完全空乏型SOI技術で作成した論理回路に適用して,そこで発生するSETパルスの波形を観測することに成功した.更に,その波形を物理的に説明する解析式を導出した.
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