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Research on Silicon-Carbide IoT Platform for Harsh Environment Applications

Research Project

Project/Area Number 20H00252
Research Category

Grant-in-Aid for Scientific Research (A)

Allocation TypeSingle-year Grants
Section一般
Review Section Medium-sized Section 21:Electrical and electronic engineering and related fields
Research InstitutionHiroshima University

Principal Investigator

Kuroki Shin-Ichiro  広島大学, ナノデバイス研究所, 教授 (70400281)

Co-Investigator(Kenkyū-buntansha) 田中 保宣  国立研究開発法人産業技術総合研究所, エネルギー・環境領域, 副研究センター長 (20357453)
児島 一聡  国立研究開発法人産業技術総合研究所, エネルギー・環境領域, 研究チーム長 (40371041)
大島 武  国立研究開発法人量子科学技術研究開発機構, 高崎量子応用研究所 量子機能創製研究センター, センター長 (50354949)
武山 昭憲  国立研究開発法人量子科学技術研究開発機構, 高崎量子応用研究所 量子機能創製研究センター, 主幹研究員 (50370424)
牧野 高紘  国立研究開発法人量子科学技術研究開発機構, 高崎量子応用研究所 量子機能創製研究センター, 主幹研究員 (80549668)
Project Period (FY) 2020-04-01 – 2023-03-31
Project Status Completed (Fiscal Year 2022)
Budget Amount *help
¥45,890,000 (Direct Cost: ¥35,300,000、Indirect Cost: ¥10,590,000)
Fiscal Year 2022: ¥9,750,000 (Direct Cost: ¥7,500,000、Indirect Cost: ¥2,250,000)
Fiscal Year 2021: ¥13,780,000 (Direct Cost: ¥10,600,000、Indirect Cost: ¥3,180,000)
Fiscal Year 2020: ¥22,360,000 (Direct Cost: ¥17,200,000、Indirect Cost: ¥5,160,000)
Keywords極限環境エレクトロニクス / シリコンカーバイド半導体 / CMOS集積回路 / 耐放射線 / 高温動作 / 耐放射線デバイス / 電子デバイス / 耐放射線集積回路 / 高温動作集積回路
Outline of Research at the Start

シリコンカーバイド(SiC)半導体はバンドギャップが広いという特性と原子間結合が強いという物性をもつ。このSiC半導体を用いたデバイスは高放射線・高温などの極限環境でも駆動可能なデバイスとして期待されている。本研究では、極限環境下でも駆動可能な4H-SiC CMOS集積回路の構築と、これに伴う回路設計パラメータ群を整備する。そしてこの技術を多くの研究者が利用な形にし、IoTプラットフォーム化を行う。

Outline of Final Research Achievements

High-temperature and radiation hardened electronics have been required for human activities in space, accelerator, and also nuclear power plants. For the extreme environment applications, silicon carbide (SiC) with wideband gap is one of the promising semiconductors. Our objective is to realize the SiC extreme environments electronics, which consist of SiC processor, sensor systems, etc. In this work, 4H-SiC CMOS circuits and image sensors were investigated for the extreme environment applications. The SiC MOSFETs and the amplifier circuits successfully worked in a high temperature of up to 500°C, and the SiC image sensors were demonstrated at high gamma-ray exposure of 2 MGy.

Academic Significance and Societal Importance of the Research Achievements

現在福島第一原発の廃炉活動が進められている。その活動には高放射線環境下でのロボットによる作業が必要であるが、通常ロボットの半導体集積回路は、高い放射線環境下で容易に破損する。そのためメガグレイ級の放射線耐性を持つ集積回路が望まれている。また他方、最先端科学である(1)金星探査なども含む宇宙探査、(2)高エネルギー物理を支える加速器、(3)国際熱核融合実験炉では、耐放射線性および500°Cまでの超高温動作可能なエレクトロニクスが強く望まれている。これを解決するため本研究ではシリコンカーバイド半導体を用いた4H-SiC集積回路の研究を進めた。本研究により人類の新しいフロンティア開拓に寄与する。

Report

(5 results)
  • 2022 Annual Research Report   Final Research Report ( PDF )
  • 2021 Annual Research Report
  • 2020 Comments on the Screening Results   Annual Research Report
  • Research Products

    (46 results)

All 2023 2022 2021 2020 Other

All Int'l Joint Research (3 results) Journal Article (8 results) (of which Peer Reviewed: 8 results,  Open Access: 2 results) Presentation (32 results) (of which Int'l Joint Research: 13 results,  Invited: 10 results) Remarks (2 results) Patent(Industrial Property Rights) (1 results)

  • [Int'l Joint Research] KTHスウェーデン王立工科大学(スウェーデン)

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      Masayuki Tsutsumi, Tatsuya Meguro, Akinori Takeyama, Takeshi Ohshima, Yasunori Tanaka, and Shin-Ichiro Kuroki
    • Journal Title

      IEEE Electron Device Letters

      Volume: 44 Issue: 1 Pages: 100-103

    • DOI

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      Tatsuya Meguro, Akinori Takeyama, Takeshi Ohshima, Yasunori Tanaka, Shin-Ichiro Kuroki
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      IEEE Electron Device Letters

      Volume: 43 Issue: 10 Pages: 1713-1716

    • DOI

      10.1109/led.2022.3200124

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    • Author(s)
      Vuong Van Cuong, Tatsuya Meguro, Seiji Ishikawa, Tomonori Maeda, Hiroshi Sezaki, Shin-Ichiro Kuroki
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      IEEE Transactions on Electron Devices

      Volume: 69 Issue: 8 Pages: 4194-4199

    • DOI

      10.1109/ted.2022.3184663

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      Volume: 131 Issue: 24 Pages: 245107-245107

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      Journal of Applied Physics

      Volume: 131 Issue: 24 Pages: 244503-244503

    • DOI

      10.1063/5.0095841

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      Vuong Van Cuong, Tadashi Sato, Takamichi Miyazaki, Tatsuya Meguro, Seiji Ishikawa, Tomonori Maeda, Hiroshi Sezaki and Shin-Ichiro Kuroki
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      Japanese Journal of Applied Physics

      Volume: 61 Issue: 3 Pages: 036501-036501

    • DOI

      10.35848/1347-4065/ac4391

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      Materials Science in Semiconductor Processing

      Volume: 121 Pages: 105343-105343

    • DOI

      10.1016/j.mssp.2020.105343

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      Van Cuong Vuong、Seiji Ishikawa、Tomonori Maeda、Hiroshi Sezaki、Tetsuya Meguro、Shin-Ichiro Kuroki
    • Journal Title

      Japanese Journal of Applied Physics

      Volume: 59 Issue: 12 Pages: 126504-126504

    • DOI

      10.35848/1347-4065/abc924

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      Shin-Ichiro Kuroki, Toya Kai, Masayuki Tsutsumi, Tatsuya Meguro, Vuong Van Cuong, Akinori Takeyama, Takahiro Makino, Takeshi Ohshima
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      7th IEEE Electron Devices Technology and Manufacturing (IEEE EDTM2023)
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      Vuong Van Cuong, Kaho Koyanagi, Tatusya Meguro, Shin-Ichiro Kuroki
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      International Conference on Silicon Carbide and Related Materials 2022 (ICSCRM2022)
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      Masayuki Tsutsumi, Tatsuya Meguro, Akinori Takeyama, Takeshi Ohsima, Yasunori Tanaka, and Shin-Ichiro Kuroki
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      Vuong Van Cuong, Tatusya Meguro, Seiji Ishikawa, Hiroshi Sezaki, Tomonori Maeda, Shin-Ichiro Kuroki
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      International Conference on Silicon Carbide and Related Materials 2022 (ICSCRM2022)
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      Toya Kai, Kazutoshi Kojima, Takeshi Ohshima, Yasunori Tanaka, and Shin-Ichiro Kuroki
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      Kazutoshi Kojima Shinichiro Sato, Takeshi Ohshima and Shin-Ichiro Kuroki
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      甲斐 陶弥、児島 一聡、大島 武、田中 保宣、黒木 伸一郎
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      黒木 伸一郎, 志摩拓真, 目黒達也, Vuong Van Cuong, 武山昭憲, 牧野高紘, 大島武, 児島一聡, 田中保宣
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  • [Presentation] SiC 耐放射線イメージセンサの研究開発2021

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      黒木 伸一郎, 谷口 学, 西垣内 健汰, 目黒 達也
    • Industrial Property Rights Holder
      黒木 伸一郎, 谷口 学, 西垣内 健汰, 目黒 達也
    • Industrial Property Rights Type
      特許
    • Filing Date
      2020
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URL: 

Published: 2020-04-28   Modified: 2024-01-30  

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