X線吸収端微細構造測定法による医薬品原薬評価法の開発と評価

• Project/Area Number: 20K07001
• Research Category: Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
• Allocation Type: Multi-year Fund
• Section: 一般
• Review Section: Basic Section 47020:Pharmaceutical analytical chemistry and physicochemistry-related
• Research Institution: Toho University
• Principal Investigator: 野口 修治 東邦大学, 薬学部, 教授 (60237823)
• Co-Investigator(Kenkyū-buntansha): 鈴木 浩典 東邦大学, 薬学部, 講師 (20625694) ; 伊藤 雅隆 東邦大学, 薬学部, 助教 (30792410)
• Project Period (FY): 2020-04-01 – 2023-03-31
• Project Status: Granted (Fiscal Year 2020)
• Budget Amount: ¥4,290,000 (Direct Cost: ¥3,300,000、Indirect Cost: ¥990,000); Fiscal Year 2022: ¥1,040,000 (Direct Cost: ¥800,000、Indirect Cost: ¥240,000); Fiscal Year 2021: ¥1,170,000 (Direct Cost: ¥900,000、Indirect Cost: ¥270,000); Fiscal Year 2020: ¥2,080,000 (Direct Cost: ¥1,600,000、Indirect Cost: ¥480,000)
• Keywords: X線吸収端微細構造測定法 / 医薬品原薬評価 / 放射光X線

Outline of Research at the Start

医薬品製剤では，原薬の結晶多形の混在により治療効果が低下することがあるため，製剤中の結晶多形混在を詳細に解析する必要がある。本研究では，医薬品原薬と製剤を対象として，原薬中のX線吸収原子がその近傍の原子と形成する相互作用とXAFSスペクトルとの相関を定量的に明らかにし，その知見に基づいてXAFS法を原薬および製剤の新規評価法として確立することを目的とする。XAFS法は既存の方法とは全く異なる原理を用いた解析法であるため，原薬および製剤に対する新しい物質観を獲得できると期待でき，構造情報に基づく新規製剤の設計に応用可能と期待できる。