原子レベルの構造制御技術開発によるダイヤモンドMOSFETの高移動度・高耐圧化
Project/Area Number |
21H01363
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Research Category |
Grant-in-Aid for Scientific Research (B)
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Allocation Type | Single-year Grants |
Section | 一般 |
Review Section |
Basic Section 21050:Electric and electronic materials-related
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Research Institution | Kanazawa University |
Principal Investigator |
松本 翼 金沢大学, ナノマテリアル研究所, 准教授 (00739568)
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Project Period (FY) |
2021-04-01 – 2024-03-31
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Project Status |
Completed (Fiscal Year 2023)
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Budget Amount *help |
¥17,290,000 (Direct Cost: ¥13,300,000、Indirect Cost: ¥3,990,000)
Fiscal Year 2023: ¥4,030,000 (Direct Cost: ¥3,100,000、Indirect Cost: ¥930,000)
Fiscal Year 2022: ¥7,020,000 (Direct Cost: ¥5,400,000、Indirect Cost: ¥1,620,000)
Fiscal Year 2021: ¥6,240,000 (Direct Cost: ¥4,800,000、Indirect Cost: ¥1,440,000)
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Keywords | ダイヤモンド / MOSFET / パワーデバイス / エッチング / 半導体 / CVD / 炭素固溶反応 |
Outline of Research at the Start |
極めて高いチャネル移動度・耐圧が期待できる反転層ダイヤモンドMOSFETによる省エネ社会構築を目指し、ダイヤモンド半導体の新規デバイス作製プロセスの開発により、構造最適化を行い、SiCを超える移動度と耐圧を達成する。具体的には、チャネル部における原子レベルのダイヤモンド表面荒れという高性能化を阻害する課題を解決するため、Si半導体等の従来からあるデバイス作製プロセスと、独自のCVD(化学気相成長)によるラテラル成長技術、CVDのノウハウ、Ni触媒エッチングによるダイヤモンド加工技術を組み合わせることで、新規デバイス作製プロセスの開発に取り組み、SiC-MOSFETを超える特性を達成する。
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Outline of Annual Research Achievements |
ダイヤモンドMOSFETにおいて、現行のメタルマスクを介した選択成長技術を用いたソース・ドレイン領域の形成では、チャネル部に微細な荒れが生じるというプロセス課題があった。これに対し、本研究では、下地基板による成長速度差を用いた方法、面内方向にのみ成長するラテラル成長法、Niが炭素を固溶する性質を用いたダマシンライクな方法を提案し、その実証を進めた。その結果、いずれの方法でもMOSFETの動作実証に成功し、従来の特性よりも一桁近く、移動度を改善することに成功した。一方で、それぞれの手法の課題も見えてきた。下地基板による成長速度差を用いた方法においては、下地基板の不純物がエッチングされてプラズマ中に入り込み、ダイヤモンドに再ドープされることが分かった。このため、低濃度層を埋め込みたい場合には、pn制御が難しくなるという課題が見つかった。二つ目の面内方向にのみ成長するラテラル成長法においては、ホウ素濃度が高くなるとエッチングが起こるため、濃度に上限ができてしまい、低抵抗化に向けてはホウ素濃度の向上が大きな障壁となっている。三つ目のNiが炭素を固溶する性質を用いたダマシンライクな方法では、エッチング表面が荒れてしまうという課題が見えてきた。これらを応用した縦型MOSFETにも挑戦したが、これらの課題に関連したところで制限されてしまった。今後は、各プロセスを改善することと、既存の装置もうまく取り入れながら、ダイヤモンド半導体デバイス作製プロセスの最適化を目指す。
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Research Progress Status |
令和5年度が最終年度であるため、記入しない。
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Strategy for Future Research Activity |
令和5年度が最終年度であるため、記入しない。
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Report
(3 results)
Research Products
(22 results)
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[Presentation] New structure of inversion channel diamond MOSFET for high power operation2024
Author(s)
Tsubasa Matsumoto, Kai Sato, Yuto Nakamura, Traore Aboulaye, Toshiharu Makino, Hiromitsu Kato, Masahiko Ogura, Kimiyoshi Ichikawa, Kan Hayashi, Takao Inokuma, Satoshi Yamasaki, Norio Tokuda
Organizer
Kanazawa Diamond Workshop 2024
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[Presentation] Proposal of inversion channel diamond MOSFET with drift layer-free for low-loss and high-voltage2024
Author(s)
Tsubasa Matsumoto, Kai Sato, Yuto Nakamura, Toshiharu Makino, Hiromitsu Kato, Masahiko Ogura, Traore Aboulaye, Kimiyoshi Ichikawa, Kan Hayashi, Takako Inokuma, Satoshi Yamasaki, Norio Tokuda
Organizer
Hasselt Diamond Workshop 2024 - SBDD XXVIII
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[Presentation] Evaluation of Contact Resistance of Diamond MOSFETs2023
Author(s)
Kai Sato1, Kimiyoshi Ichikawa1, Kan Hayashi1, Hiromitsu Kato2 , Toshiharu Makino2 Masahiko Ogura2, Takao Inokuma1, Satoshi Yamasaki1, Norio Tokuda1, Tsubasa Matsumoto
Organizer
The 9th International Symposium on Organic and Inorganic Electronic Materials and Related Nanotechnologies
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[Presentation] Lateral growth over holes on diamond (111) substrate2023
Author(s)
Kouryou Morishita1, Kimiyoshi Ichikawa2, Kan Hayashi1,2, Tsubasa Matsumoto, Satoshi Yamasaki2, Takao Inokuma1,2, Norio Tokuda
Organizer
The 9th International Symposium on Organic and Inorganic Electronic Materials and Related Nanotechnologies
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[Presentation] Advances in diamond MOSFET technologies2023
Author(s)
Norio Tokuda, Kazuki Kobayashi, Kan Hayashi, Kimiyoshi Ichikawa, Tsubasa Matsumoto, Takao Inokuma, Satoshi Yamasaki, Xufang Zhang1†, Hiromitsu Kato2, Masahiko Ogura, Toshiharu Makino, Daisuke Takeuchi2, Christoph E. Nebel
Organizer
E-MRS 2023 Spring Meeting
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