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Radiation test of SOI detector for the particle physics experiment Belle2

Research Project

Project/Area Number 22740136
Research Category

Grant-in-Aid for Young Scientists (B)

Allocation TypeSingle-year Grants
Research Field Particle/Nuclear/Cosmic ray/Astro physics
Research InstitutionThe University of Tokyo (2011)
Tohoku University (2010)

Principal Investigator

ONUKI Yoshiyuki  東京大学, 素粒子物理国際研究センター, 助教 (40415120)

Project Period (FY) 2010 – 2011
Project Status Completed (Fiscal Year 2011)
Budget Amount *help
¥4,160,000 (Direct Cost: ¥3,200,000、Indirect Cost: ¥960,000)
Fiscal Year 2011: ¥3,120,000 (Direct Cost: ¥2,400,000、Indirect Cost: ¥720,000)
Fiscal Year 2010: ¥1,040,000 (Direct Cost: ¥800,000、Indirect Cost: ¥240,000)
Keywords素粒子物理 / SOI / 半導体検出器 / シリコン / 放射線検出器 / 放射線
Research Abstract

We had achieved various radiation tests with the semi-conductor radiation detector with Silicon On Insulator(SOI) technology. In 2010, we performed X-ray irradiation test on the various kinds of SOI MOSFETs. In this test, we found the BPW(Buried P-Well) underneath the SiO2 insulator helps to increase radiation tolerance. In the same year, we succeeded first tracking of positron beam at the Research Center for Electron and Photon Science of Tohoku University with SOI detector which consists of 3 layers. In 2011, we also succeeded tracking of 120 GeV hadron beam at CERN with updated SOI detector which consists of 4 layers. Using the data, we evaluated the SOI detector, intrinsic resolution and detection efficiency and so on.

Report

(3 results)
  • 2011 Annual Research Report   Final Research Report ( PDF )
  • 2010 Annual Research Report
  • Research Products

    (13 results)

All 2012 2011 2010

All Presentation (11 results) Book (2 results)

  • [Presentation] 高エネルギー加速器実験に向けてのSOI検出器PIXOR1の試験評価2012

    • Author(s)
      小野善将
    • Organizer
      日本物理学会第67回年次大会
    • Place of Presentation
      関西学院大学
    • Year and Date
      2012-03-27
    • Related Report
      2011 Final Research Report
  • [Presentation] 高エネルギー加速器実験に向けてのSOI検出器PIXOR1の試験評価2012

    • Author(s)
      小野善将
    • Organizer
      日本物理学会第67回年次大会
    • Place of Presentation
      関西学院大(兵庫県西宮市)
    • Year and Date
      2012-03-27
    • Related Report
      2011 Annual Research Report
  • [Presentation] CERN120GeVハドロンビームを用いたSOIピクセル検出器のビーム試験2012

    • Author(s)
      小貫良行
    • Organizer
      日本物理学会第67回年次大会
    • Place of Presentation
      関西学院大学
    • Year and Date
      2012-03-24
    • Related Report
      2011 Final Research Report
  • [Presentation] 高エネルギー荷電粒子検出器SOIピクセル検出器の開発2012

    • Author(s)
      新庄康平
    • Organizer
      日本物理学会第67回年次大会
    • Place of Presentation
      関西学院大学
    • Year and Date
      2012-03-24
    • Related Report
      2011 Final Research Report
  • [Presentation] CERN120GeVハドロンビームを用いたSOIピクセル検出器のビーム試験2012

    • Author(s)
      小貫良行
    • Organizer
      日本物理学会第67回年次大会
    • Place of Presentation
      関西学院大(兵庫県西宮市)
    • Year and Date
      2012-03-24
    • Related Report
      2011 Annual Research Report
  • [Presentation] 高エネルギー荷電粒子検出用SOIピクセル検出器の開発2012

    • Author(s)
      新庄康平
    • Organizer
      日本物理学会第67回年次大会
    • Place of Presentation
      関西学院大(兵庫県西宮市)
    • Year and Date
      2012-03-24
    • Related Report
      2011 Annual Research Report
  • [Presentation] SOI検出器におけるセンサー層の電荷収集2011

    • Author(s)
      小野善将、小貫良行
    • Organizer
      日本物理学会第66回年次大会
    • Place of Presentation
      新潟大学
    • Year and Date
      2011-03-27
    • Related Report
      2011 Final Research Report
  • [Presentation] SOI pixel検出器を用いた電子線飛跡再構成実験2011

    • Author(s)
      葛山浩教、小貫良行
    • Organizer
      日本物理学会第66回年次大会
    • Place of Presentation
      新潟大学
    • Year and Date
      2011-03-27
    • Related Report
      2011 Final Research Report
  • [Presentation] SOI検出器におけるセンサー層の電荷収集2011

    • Author(s)
      小野善将, 小貫良行
    • Organizer
      日本物理学会 第66回年次大会
    • Place of Presentation
      新潟大学
    • Year and Date
      2011-03-27
    • Related Report
      2010 Annual Research Report
  • [Presentation] SOI pixel検出器を用いた電子線飛跡再構成実験2011

    • Author(s)
      葛山浩教, 小貫良行
    • Organizer
      日本物理学会 第66回年次大会
    • Place of Presentation
      新潟大学
    • Year and Date
      2011-03-27
    • Related Report
      2010 Annual Research Report
  • [Presentation] SOI検出器におけるX線損傷TID効果の軽減に関する研究2010

    • Author(s)
      小野善将、小貫良行
    • Organizer
      日本物理学会2010年秋季大会
    • Place of Presentation
      九州工業大学
    • Year and Date
      2010-09-14
    • Related Report
      2011 Final Research Report 2010 Annual Research Report
  • [Book] 日本物理学会誌第65巻第9号実験技術SOI技術を用いた放射線イメージセンサーの開発2010

    • Author(s)
      新井康夫、三好達也、一宮亮、小貫良行
    • Publisher
      社団法人日本物理学会
    • Related Report
      2011 Final Research Report
  • [Book] 日本物理学会誌 第65巻第9号実験技術「SOI技術を用いた放射線イメージセンサーの開発」2010

    • Author(s)
      新井康夫、三好達也、一宮亮、小貫良行
    • Publisher
      社団法人 日本物理学会
    • Related Report
      2010 Annual Research Report

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Published: 2010-08-23   Modified: 2016-04-21  

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