Research Project
Fund for the Promotion of Joint International Research (Fostering Joint International Research (A))
本研究では、従来のX線構造解析法では困難であった「軽元素の可視化」を、ナノサイズに集光したアト秒X線自由電子レーザー(XFEL)を用いることで実現する。基課題で開発中のX線ナノ集光光学系に、ナノ集光したアト秒XFELを組み合わせて試料からのX線散乱を測定する。このような高強度XFELの照射下では、原子番号が大きな元素の散乱能は光電効果で作られた内殻ホールのために著しく低下するため、軽元素からの散乱信号を相対的に増幅することができる。この原理を用いて軽元素の密度分布や空間配置を決定することによって、「X線構造解析法では軽元素が見えづらい」というこれまでの常識を覆すことを目指す。