Project/Area Number |
23H01478
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Research Category |
Grant-in-Aid for Scientific Research (B)
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Allocation Type | Single-year Grants |
Section | 一般 |
Review Section |
Basic Section 21060:Electron device and electronic equipment-related
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Research Institution | Japan Aerospace EXploration Agency |
Principal Investigator |
小林 大輔 国立研究開発法人宇宙航空研究開発機構, 宇宙科学研究所, 准教授 (90415894)
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Co-Investigator(Kenkyū-buntansha) |
牧野 高紘 国立研究開発法人量子科学技術研究開発機構, 高崎量子応用研究所 量子機能創製研究センター, 主幹研究員 (80549668)
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Project Period (FY) |
2023-04-01 – 2026-03-31
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Project Status |
Granted (Fiscal Year 2023)
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Budget Amount *help |
¥18,720,000 (Direct Cost: ¥14,400,000、Indirect Cost: ¥4,320,000)
Fiscal Year 2023: ¥7,410,000 (Direct Cost: ¥5,700,000、Indirect Cost: ¥1,710,000)
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Keywords | 品質管理 / 機器・人間の信頼性 / 低酸素社会 / 放射線 / 量子ビーム産業応用 |
Outline of Research at the Start |
我々の生活に欠かせない半導体は放射線に脆弱で「ソフトエラー」と呼ばれる誤動作を起こす。現在、半導体のソフトエラー信頼性を評価するには、地上用であれ宇宙用であれ、加速器を使って放射線を当てる必要がある。ソフトエラーは放射線によって起きる以上、当てることは本質的で避けられないのかもしれないが、加速器実験は大がかりで機会が限られており、できることなら避けたい。本研究ではこの課題の克服に挑む。応募者らがこれまでの科研費の研究で開発した「ソフトエラー信頼性方程式」を頼りに、放射線を当てずにソフトエラー信頼性を言い当てることを目指す。
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