Project/Area Number |
23H01847
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Research Category |
Grant-in-Aid for Scientific Research (B)
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Allocation Type | Single-year Grants |
Section | 一般 |
Review Section |
Basic Section 29020:Thin film/surface and interfacial physical properties-related
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Research Institution | Yokohama National University |
Principal Investigator |
大野 真也 横浜国立大学, 大学院工学研究院, 准教授 (00377095)
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Co-Investigator(Kenkyū-buntansha) |
宮内 良広 防衛大学校(総合教育学群、人文社会科学群、応用科学群、電気情報学群及びシステム工学群), 応用科学群, 准教授 (70467124)
吉越 章隆 国立研究開発法人日本原子力研究開発機構, 原子力科学研究部門 原子力科学研究所 物質科学研究センター, 研究主幹 (00283490)
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Project Period (FY) |
2023-04-01 – 2026-03-31
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Project Status |
Granted (Fiscal Year 2023)
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Budget Amount *help |
¥19,240,000 (Direct Cost: ¥14,800,000、Indirect Cost: ¥4,440,000)
Fiscal Year 2023: ¥11,700,000 (Direct Cost: ¥9,000,000、Indirect Cost: ¥2,700,000)
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Keywords | ナノ光学計測 / 層状半導体 / 有機分子 / X線分光計測 / 第一原理計算 |
Outline of Research at the Start |
2023年度に、本課題で目標としている層状半導体ナノスケール構造に起因する光学特性を捉えるための光学測定系の構築と改良を進める。測定対象として、ドメイン境界を有するCVDグラフェン、TMDフレーク試料などを主体とする。光学計測上の困難は、ドメイン境界やフレーク試料のエッジなど局所構造からの信号を高精度で検出することである。このため、試料の精密な位置決め、顕微測定の高分解能化を行う。更に、放射光光源を用いたX線分光計測(光電子分光、X線吸収)、プローブ顕微鏡(STM,AFM)、汎用光学顕微手法(Raman,PL)を活用する。また、第一原理計算/量子化学計算を活用し光学スペクトルを解釈する。
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