Project/Area Number |
23H01854
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Research Category |
Grant-in-Aid for Scientific Research (B)
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Allocation Type | Single-year Grants |
Section | 一般 |
Review Section |
Basic Section 29020:Thin film/surface and interfacial physical properties-related
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Research Institution | Ryukoku University |
Principal Investigator |
宮戸 祐治 龍谷大学, 先端理工学部, 准教授 (80512780)
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Co-Investigator(Kenkyū-buntansha) |
山田 啓文 龍谷大学, 公私立大学の部局等, 研究員 (40283626)
中村 芳明 大阪大学, 大学院基礎工学研究科, 教授 (60345105)
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Project Period (FY) |
2023-04-01 – 2026-03-31
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Project Status |
Granted (Fiscal Year 2023)
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Budget Amount *help |
¥18,980,000 (Direct Cost: ¥14,600,000、Indirect Cost: ¥4,380,000)
Fiscal Year 2023: ¥10,660,000 (Direct Cost: ¥8,200,000、Indirect Cost: ¥2,460,000)
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Keywords | 熱電物性 / 原子間力顕微鏡 / 計測 |
Outline of Research at the Start |
本研究では、以下の5つのテーマを3年間で実施する計画であり、 KFM・AFMポテンショメトリの複合同時計測手法の開発と効用の検証を行うとともに、同手法によってマクロ熱電性能に対するナノ構造や構造界面の寄与を解明する。 1. KFM・AFMポテンショメトリ複合ナノ熱電評価手法の開発 2. FIB加工で高感度で熱揺動が少ないカンチレバーを開発 3. 自由に温度勾配を設定できる試料ホルダの開発 4. 従来手法のSThMによる測定比較(局所熱流計測の試行) 5. 様々な熱電材料を測定し、ナノ熱電物性とマクロな熱電性能との相関を解明
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