X線残留応力測定装置を利用した金属薄膜による応力測定に関する研究

Research Project

Project/Area Number	23K03643
Research Category	Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
Allocation Type	Multi-year Fund
Section	一般
Review Section	Basic Section 18040:Machine elements and tribology-related
Research Institution	Tottori University
Principal Investigator	小野勇一鳥取大学, 工学研究科, 教授 (50335501)
Co-Investigator(Kenkyū-buntansha)	森戸茂一島根大学, 学術研究院理工学系, 教授 (00301242)
Project Period (FY)	2023-04-01 – 2026-03-31
Project Status	Granted (Fiscal Year 2023)
Budget Amount *help	¥4,680,000 (Direct Cost: ¥3,600,000、Indirect Cost: ¥1,080,000) Fiscal Year 2025: ¥1,040,000 (Direct Cost: ¥800,000、Indirect Cost: ¥240,000) Fiscal Year 2024: ¥1,300,000 (Direct Cost: ¥1,000,000、Indirect Cost: ¥300,000) Fiscal Year 2023: ¥2,340,000 (Direct Cost: ¥1,800,000、Indirect Cost: ¥540,000)
Keywords	応力・ひずみ計測
Outline of Research at the Start	本研究の全体構想は，金属薄膜の粒子成長を利用して，疲労破壊の起点となるような機械要素の微視的領域に発生する繰返し応力を計測できる測定法を確立することである．その中で，本研究では，金属薄膜として銅薄膜とニッケル薄膜を対象として，成長した粒子の結晶学的特徴を持ち運び可能なX線残留応力測定装置にて取得することで，従来よりも格段に簡便に主応力を計測できる手法について検討する．すなわち，残留応力測定装置から取得できるデバイ環の特徴を定量化することで主応力を計測できる較正式を導出する．