Quantitative microscopic characterization and its application to the interfacial phenomenaDevelopment of quantitative microscopic characterization and its application to the interface

Research Project

Project/Area Number	23K04365
Research Category	Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
Allocation Type	Multi-year Fund
Section	一般
Review Section	Basic Section 26010:Metallic material properties-related
Research Institution	National Institute for Materials Science
Principal Investigator	井誠一郎国立研究開発法人物質・材料研究機構, 構造材料研究センター, 主幹研究員 (60435146)
Project Period (FY)	2023-04-01 – 2026-03-31
Project Status	Granted (Fiscal Year 2023)
Budget Amount *help	¥4,810,000 (Direct Cost: ¥3,700,000、Indirect Cost: ¥1,110,000) Fiscal Year 2025: ¥1,170,000 (Direct Cost: ¥900,000、Indirect Cost: ¥270,000) Fiscal Year 2024: ¥1,560,000 (Direct Cost: ¥1,200,000、Indirect Cost: ¥360,000) Fiscal Year 2023: ¥2,080,000 (Direct Cost: ¥1,600,000、Indirect Cost: ¥480,000)
Keywords	結晶粒界 / 異相界面 / 透過型電子顕微鏡 / 電子線エネルギー損失分光 / その場観察
Outline of Research at the Start	本研究では、結晶粒界が有する諸物性の定量評価技術構築に取り組む。これまでに多く報告されている双結晶のような幾何関係がわかっている粒界に加えて、多結晶中の粒界、特に多結晶材料の信頼性を担保する指標の一つである粒界破壊の優先的な経路であると考えられている一般粒界の評価を可能とする手法を検討する。静的な構造解析・電子状態計測や、透過型電子顕微鏡内でのその場観察などを駆使し、定量評価技術を構築するとともに、粒界の構造（組織）・物性・力学特性に関する各種定量データの相互関係を精査し、粒界が有する物性・特性と粒界構造の関係を追求する。