Field Testing for Structure-Oriented Computing Architectures

• Project/Area Number: 23K11033
• Research Category: Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
• Allocation Type: Multi-year Fund
• Section: 一般
• Review Section: Basic Section 60040:Computer system-related
• Research Institution: Ehime University
• Principal Investigator: 高橋 寛 愛媛大学, 理工学研究科(工学系), 教授 (80226878)
• Co-Investigator(Kenkyū-buntansha): 樋上 喜信 愛媛大学, 理工学研究科(工学系), 教授 (40304654) ; 王 森レイ 愛媛大学, 理工学研究科(工学系), 講師 (90735581)
• Project Period (FY): 2023-04-01 – 2026-03-31
• Project Status: Granted (Fiscal Year 2023)
• Budget Amount: ¥3,900,000 (Direct Cost: ¥3,000,000、Indirect Cost: ¥900,000); Fiscal Year 2025: ¥1,560,000 (Direct Cost: ¥1,200,000、Indirect Cost: ¥360,000); Fiscal Year 2024: ¥1,040,000 (Direct Cost: ¥800,000、Indirect Cost: ¥240,000); Fiscal Year 2023: ¥1,300,000 (Direct Cost: ¥1,000,000、Indirect Cost: ¥300,000)
• Keywords: フィールドテスト / 構造型情報処理アーキテクチャ / 故障検査 / ディペンダブルコンピューティング

Outline of Research at the Start

超スマート社会の構成要素であるクラウド，エッジのそれぞれにおいて更なる機器の知能化が必要であり，機械学習に必要な計算処理に適した回路を構成する「構造型情報処理アーキテクチャ」の研究・開発が進展しているが，構造型情報処理アーキテクチャに対する故障検査法は未だ確立されていない。
研究計画では，構造型情報処理アーキテクチャがもつ特徴的な回路構造を考慮したテスト法およびそれらを組込み自己テストによって実行するフィールドテスト法を提案する。具体的には，構造型情報処理アーキテクチャに対する高効率なテスト法およびそれを実行するためのテスト容易化設計法を提案する。本研究では知的情報機器の高信頼化を目指す。