Reliable logic design and test methods for error tolerant application

Research Project

Project/Area Number	23K11037
Research Category	Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
Allocation Type	Multi-year Fund
Section	一般
Review Section	Basic Section 60040:Computer system-related
Research Institution	Hiroshima City University
Principal Investigator	市原英行広島市立大学, 情報科学研究科, 教授 (50326427)
Project Period (FY)	2023-04-01 – 2026-03-31
Project Status	Granted (Fiscal Year 2023)
Budget Amount *help	¥4,030,000 (Direct Cost: ¥3,100,000、Indirect Cost: ¥930,000) Fiscal Year 2025: ¥1,690,000 (Direct Cost: ¥1,300,000、Indirect Cost: ¥390,000) Fiscal Year 2024: ¥1,300,000 (Direct Cost: ¥1,000,000、Indirect Cost: ¥300,000) Fiscal Year 2023: ¥1,040,000 (Direct Cost: ¥800,000、Indirect Cost: ¥240,000)
Keywords	Approximate Computing / Stochastic Computing / Reliability / Testing
Outline of Research at the Start	エラーに耐性を持つアプリケーションのための論理回路（ETA回路）の信頼性に着目し，高信頼設計法とテスト手法に関する研究を行う．決定論的計算法と確率的計算法の両方のアプローチに対して，ETA回路の信頼性解析手法を確立し，それを用いた高信頼ETA回路の自動設計手法を提案する．また，ETA回路を実装したLSIを低コストでテストするための手法を開発し，それに適したテスト容易化設計手法も提案する．これにより，本質的に回路面積，回路遅延，消費電力が小さいETA回路の信頼度を最大化することが可能となるだけでなく，そのようなETA回路に対して低コストで高品質なテストができるようになる．