Research Project
Grant-in-Aid for Research Activity Start-up
SiC中点欠陥の持つスピン情報を光電流により電気的に読み出す手法は、点欠陥を用いた量子センサ・量子情報デバイスと、既存の電子デバイスを融合させた応用に向け非常に重要な技術である。一方で光電流による読み出し効率は従来の光学的読み出しと比較して低く、改善が必要である。そこで、点欠陥が放出する光電流キャリアの輸送機構の詳細を研究し、SiC量子デバイス実現に向けた信号読み出し効率向上を目指す。