Project/Area Number |
23K22771
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Research Category |
Grant-in-Aid for Scientific Research (B)
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Allocation Type | Multi-year Fund |
Section | 一般 |
Review Section |
Basic Section 21030:Measurement engineering-related
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Research Institution | Kagawa University |
Principal Investigator |
石丸 伊知郎 香川大学, 創造工学部, 教授 (70325322)
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Co-Investigator(Kenkyū-buntansha) |
和田 健司 香川大学, 医学部, 教授 (10243049)
岡崎 慎一郎 香川大学, 創造工学部, 准教授 (30510507)
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Project Period (FY) |
2024-04-01 – 2025-03-31
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Project Status |
Granted (Fiscal Year 2024)
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Budget Amount *help |
¥4,550,000 (Direct Cost: ¥3,500,000、Indirect Cost: ¥1,050,000)
Fiscal Year 2024: ¥4,550,000 (Direct Cost: ¥3,500,000、Indirect Cost: ¥1,050,000)
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Keywords | 赤外分光 / 分光イメージング / FTIR / 干渉鮮明度 / インターフェログラム |
Outline of Research at the Start |
①放射光防止、また母材のSiは赤外光を透過してしまうので②放射光の遮光、更に③反射防止を同時に満たさなくてはならない。①と②を同時に満たすためには、自由電子を有する例えば金を蒸着する事で反射率が大きくなるので①を、また放射率は小さくなるので②を満たすことができる。そこで、反射率が大きく放射率の小さな金を用いながらも、カメラ側の反射率だけを選択的に小さくできる構造的な反射防止膜のサブ波長構造(SWC:SubWave-length Structure Coating)を設ける事にした。本年度は、特に広帯域な中赤外領域での無反射性を有するSWC構造の最適化と製作方法の検討を行う。
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