Research Project
Grant-in-Aid for Scientific Research (B)
本研究は光学干渉非接触温度計測法(Optical Interference Contactless Thermometry : OICT)を用いて、シリコンやシリコンカーバイドパワーデバイス動作時の自己発熱温度の計測を試み、どの様な過程を経て劣化や熱暴走に至るのかを明らかにすることを目的とする。