Project/Area Number |
23K23053
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Research Category |
Grant-in-Aid for Scientific Research (B)
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Allocation Type | Multi-year Fund |
Section | 一般 |
Review Section |
Basic Section 26020:Inorganic materials and properties-related
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Research Institution | National Institute of Advanced Industrial Science and Technology |
Principal Investigator |
正井 博和 国立研究開発法人産業技術総合研究所, 材料・化学領域, 研究グループ長 (10451543)
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Project Period (FY) |
2024-04-01 – 2025-03-31
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Project Status |
Granted (Fiscal Year 2024)
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Budget Amount *help |
¥3,380,000 (Direct Cost: ¥2,600,000、Indirect Cost: ¥780,000)
Fiscal Year 2024: ¥3,380,000 (Direct Cost: ¥2,600,000、Indirect Cost: ¥780,000)
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Keywords | ガラス / 空隙 / 陽電子消滅 |
Outline of Research at the Start |
陽電子寿命測定法の利点は、基本的には試料を破壊することなく、材料中の開孔・閉孔に依存せず、非晶質材料における空隙サイズ、特に、非晶質材料における数Åから数nm程度の構造の空隙サイズを定量化できることである。しかし、この陽電子寿命測定法が無機ガラスに対して、どの程度有用で、どこに評価法としての限界があるのかについての知見は、世界的に見ても確立されていない。本研究は、酸化物ガラス、および、結晶化ガラスを対象として、陽電子寿命測定法の適応範囲を明らかにすると同時に、定量化した空隙と、材料における物性との相関を明らかにすることを目的とする。
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