Research Project
Grant-in-Aid for Scientific Research (A)
遷移金属ダイカルコゲナイドやグラフェンなどの2次元層状物質を用いた2次元ナノデバイスのピコ秒領域の超高速応答を計測する新しい計測技術の開発を行う。これまで電子デバイスや磁気デバイスの超高速応答は極短電気パルスを生成する光スイッチと光学顕微鏡を用いて計測されてきたが、さらに時間分解THz-STM計測を融合することでこれまでにない極限時空間分解能での実デバイス構造のオペランド計測を可能にする。